散射线对双壁透照像质的影响

　　底片的像质受到射线线质、感光材料、射源尺寸、透照配置及散射线的影响。为此,线质评价就要求出由这些因素构成的底片对比度,而在实际透照时,一般使用透度计显示的底片对比度来评价像质。透度计基本上有线型、孔型、槽型,我国大多采用线型透度计。据研究,平板的透照底片对比度和线型透度计的最小识别线径之间关系在理论上已经清楚,而且对管子单壁透照的像质评价也象评价平板那样得以应用。可是关于双壁透照的像质评价在理论上尚有许多问题,对管子双壁单投影时按被检部位的像质评价要求本来应将透度计置于被检部件的内壁,可是因工件的实际情况往往不能实现,而是将它置于胶片侧的管子外壁。另外对细管双壁双影透照时通常将透度计置于射源侧管子的外壁的场合较多。当管子极细时也有将透度计置于与管子透照厚度相同的平板上的作法,像这样对管子的双壁透照不得不采用与本文的透度计使用规则不同的方法的场合较多,对此,目前对像质的评价现状是:与平板透照的评价相比较而且根据实际经验来评价。

　　平板的透照或管子的单壁透照时到达检验部位的X射线有直接射线和在母材发生的散射线。而双壁透照时则不仅是在胶片侧的母材发生散射线,还有射线源侧母材发生的散射线。一般认为这种散射线要给像质带来不良影响。本研究就管子环焊缝双壁透照方法中影响像质的要因进行探讨。

　　1　关于双壁透照时透度计的像质

　　为了探讨双壁透照的像质变化,使用透度计进行了有关其最小识别线径的基础试验。若使用实际管子则散射线的影响是复杂的,分析也是困难的。所以用两块平板模拟管子的直径方向,分段改变试板间距来透照。

　　1.1　实验装置及器材

　　a.　X射线装置: XXQ-2005 (板厚6 mm和9 mm的场合)、XXQ-3005 (板厚15 mm的场合);

　　b.　胶片: GYX　N-Ⅲ;

　　c.　增感屏: 0.03 Pb (前后屏);

　　d.　试板: 20钢t 6 mm×100 mm×180 mm(2块), t 9 mm×100 mm×180 mm (2块), t15mm×100 mm×180 mm (2块);

　　e.　透度计: R10系列;

　　f.　黑白透射密度计: XMD-4型。

　　1.2　透照布置

　　如图1所示,在固定的胶片侧试板上布置透度计并保持焦距不变,通过移动射源侧试板来调整试板间距离。因为透照时照射区较大,为防止检验部位以外的散射线影响像质,在放射口安装了30mm×30 mm的光阑。

　　1.3　透照条件

　　a.　管电压: 110、140、190 kV (板厚6mm), 190 kV (板厚9 mm), 220、300 kV (板厚15 mm)。