磁粉检测试片的分类与应用

　　在磁粉检测中,试片的使用非常普遍。磁粉检测试片,又叫灵敏度试片,常用的类型有A,C和D型^[1],此外还有M型试片^[2]。

　　20世纪60年代,试片最早在日本开始使用^[3],试片主要用于验证磁粉检测综合性能(系统灵敏度),另外还可用于考察工件表面的磁场分布特征,确定被检工件的磁化电流值,以及直接考察试验条件和操作方法是否适当^[4]。

　　鉴于试片对于磁粉检测的重要性,所以形成了试片的产品标准,即JB/T 6065标准^[5]。该标准最初发布于1992年,经过若干年实施后,对试片的生产和贸易起到了很好的指导作用。为了适应技术发展和市场经济的需要,进一步促进贸易与交流,在1992年版的基础上,又重新修订了JB/T 6065,并发布为2004年版。

　　JB/T 6065—2004标准规定了磁粉检测用试片(或灵敏度试片)的分类、技术要求和检验方法。该标准适用于试片的型式检验和出厂检验,也可作为用户订货的验收依据。作为产品标准,JB/T 6065—2004标准中没有了有关使用方法方面的内容。

　　1　试片的分类和技术要求

　　1.1　分类

　　根据JB/T 6065—2004标准,磁粉检测用试片可按下述情况进行不同分类:

　　(1)按产品类型(外形尺寸),试片可分为A型、C型和D型。

　　(2)按热处理状态,试片可分为经退火处理和未经退火处理。

　　(3)按缺陷检测灵敏度等级,试片可分为高灵敏度、中灵敏度和低灵敏度。

　　与JB/T 6065—1992标准相比,JB/T 6065—2004标准的试片分类中,增加了未经退火处理试片和按灵敏度等级分类的试片。

　　1.2　材料

　　试片的材料是采用GB/T 6985《电磁纯铁冷轧薄板》规定的DT4A超高纯低碳纯铁,经轧制而成的薄片。JB/T 6065—1992标准对试片材质均要求退火。考虑到未退火处理的试片仍有生产和实际使用的情况(市场上的未退火处理试片由于未与退火试片标识区别而导致混淆使用),为了规范试片的生产、销售和使用,明确标识以区别退火与未退火试片,保护用户的利益,因此在JB/T 6065—2004标准中增加了未退火试片的内容,并要求制造商在试片上明确标识以示区别。

　　1.3　形状和尺寸

　　A型和D型试片的形状尺寸见图1,C型试片的形状尺寸见图2。据调查,JB/T 6065—1992标准中的A2和A3试片在我国无生产、销售和使用记录,相关的国家标准和行业标准中也没有使用A2和A3试片的要求。

　　因此在JB/T 6065—2004标准中,A2和A3试片被删除了,仅保留了JB/T 6065—1992标准中的A1试片,并改称为A型试片。