高精度离轴凸非球面反射镜的加工及检测

　　1　引　言

　　采用非球面光学元件可以使光学系统的结构简化、尺寸小、重量轻,并能有效地改善成像质量。因此,非球面的应用越来越广泛。然而,非球面(特别是凸非球面)的加工和检测难度要比球面大得多。

　　常用的非球面加工技术包括:光学玻璃模压技术、光学塑料成型技术、单点金刚石车削技术、ELID磨削技术[1-2]、古典法修带技术[3]、计算机控制光学表面成型技术[4-6]、磁流变抛光技术[7-8]以及离子束抛光技术[9]等。前4种技术适合于中等精度非球面的加工,并可实现非球面的量产化,但还不能用来满足空间光学系统中的高精度非球面反射镜的加工要求。古典法修带技术适合于回转对称的非球面的加工,不能用来加工离轴非球面。磁流变抛光是利用磁流变抛光液在磁场中发生流变而形成的柔性“小磨头”进行光学加工,是一种不错的加工方法,但这项研究成果在国内还没有成熟到可应用于工程中的高精度非球面的加工[10-11]。离子束抛光技术是一种高精度抛光方法,是在原子量级上实现对材料轰击去除的,但这种抛光方法效率较低,一般用这种方法加工的非球面预先应具备一定精度,且设备昂贵。因此,本文提出采用目前已较为成熟的计算机控制光学表面成型技术来实现空间光学系统中高精度非球面反射镜的加工。

　　非球面的主要检测方法有:轮廓测量法[12]、无像差点检测法[3,13]、计算全息法[14-15]、子口径拼接法[16-18]、零位补偿检测法[3,19]等。轮廓测量法是检测非球面面形常用的一种检测方法,特别适合非球面在研磨阶段的面形测量,常用的仪器有三坐标测量机、摆臂式轮廓仪等。二次曲面有一对无像差点,利用二次曲面的这一特性可实现对二次曲面面形的检测。测量凸二次曲面时,辅助镜的尺寸一般要比被检凸非球面尺寸大得多。计算全息图( Computer Generated Hologram,CGH)最大的特点是只要物波的数学模型已知,就能产生实际上并不存在物体的衍射,精确提供非球面检测所需的“标准零位补偿样板”。检测凸非球面的CGH尺寸要大于凸非球面。因此,用于大尺寸凸非球面检测的CGH制作困难。子孔径拼接法是利用标准球面波前作为参考波面,用干涉法依次测量非球面各个区域的相位分布,然后通过子孔径拼接算法重构非球面全口径面形分布。这种方法对调整机构精度和拼接算法要求较高,且对于陡度大的非球面拼接困难。零位补偿检测法通过特定的非球面光学补偿器,将干涉仪发出的平面波或球面波转换成非球面波,经被检非球面反射后,再次通过光学补偿器与干涉仪参考光干涉,从而获取被检非球面面形误差及其分布。对于凸非球面检测,补偿器的口径要大于被检凸非球面的口径。为了能用小口径光学补偿器检测大口径非球面,可以采用背部透射零位补偿检测法。这种方法适用于透明光学材料的非球面检测,对光学材料折射率均匀性和背部辅助面的加工精度要求较高。针对离轴三反消像散光学系统中非球面次镜为高陡度凸非球面、材料为折射率均匀性非常好的熔石英等特点,本文采用背部透射零位补偿检测法对离轴凸非球面进行检测。