利用超声波在固（钢）液界面处声阻抗差异导致的多重反射回波,该文建立了测量被测流体媒质声阻抗及浓度的测量系统。用该系统测量了甲醇、乙醇、蒸馏水和丙三醇4种媒质的声阻抗,与标准值相比,发现测量的误差随被测媒质阻抗增加而迅速减小;同时用系统测量了CaCl2溶液的声阻抗,结果表明溶液阻抗与浓度呈显著线性关系,最大拟合误差小于2.7g/L。检测中,由于无需声波穿透被测媒质,此法尤其适合于工业中测定管道、容器内高衰减媒质的阻抗及浓度。

对用于卫星对地观测用各种高分辨率长焦距光学系统，如折射系统，折反射系统和反射系统等各种形式和设计问题进行了分析和讨论。

利用测量光线的多次反射和组合透镜的方法使测量系统的分辨率相对于用探测器直接探测分辨率提高了8倍。实验结果表明：在二维直线度测量范围为±100μm内,测量系统与Renishaw ML10激光干涉仪比对结果的线性相关度为0.999 7,对应点的标准偏差优于0.1μm。

声波在两种介质的交界面透射和反射时,借鉴机械四端参数法,利用声学边界条件,引入了四端参数矩阵,建立四端参数模型.通过对四端参数矩阵的分析,探讨了在简谐平面波垂直入射的条件下,声波在多层介质中的传播特性,并推导出声透射系数和声反射系数的一般计算公式.

介绍了BBG602棱镜组的加工工艺.在BBG602棱镜组的加工过程中,由于影响棱镜组精度的因素很多,因此棱镜组胶合过程的控制贯穿了整个生产过程.通过对棱镜组转像规率的分析,进一步了解了胶合过程对指导棱镜组加工的重要性.通过用该方法加工棱镜组,实践证明是合理可行的.

介绍了一种可应用于X射线Kirkpatrick-Baez（KB）显微镜的光学元件——X射线超反射镜。选用的W和B4C作为镀膜材料，膜对数为20，采用单纯型调优的方法实现了X射线超反射镜设计，用磁控溅射的方法在si基片上完成了W／B4CX射线超反射镜的制备。采用高分辨率X射线衍射仪（8keV）测量了X射线超反射镜的反射特性。制备的X射线超反射镜在掠入射角分别为1．052°和1．143°处，反射角度带宽为0．3°，反射率达到20％，可满足KB型显微镜的要求。

在光学研究特别是激光应用领域内，广泛地采用由 波片和偏振器件组成的光隔离器。为了得到更好的光阻隔效果，本文将四组 波片和偏振片串联构成光隔离器。由于偏振片和 波片本身还有部分反射光存在，因此使这些通光片与光轴成一定的倾角，以抑制它们自身的回光反射间题。

以光纤传感原理为基础,采用一种强度补偿型反射式光纤位移传感器,借助光纤本身的优势,实现涡轮机轴向位移的实时监测.系统包括光源及其驱动电路、光纤传输通道、信号处理电路和信号输出系统.通过双路接收的方法消除因光源发光功率波动、光纤损耗变化以及环境干扰光等因素对测量结果的影响.采用稳压源驱动和温度补偿保证光源发光的稳定性,进行转速监测以补偿速度变化引起的误差.采用单片机完成被测信号的识别和处理,提高了测量的精度.

分析了分幅相机增益衰减的理论模型，利用Mathematica软件模拟了增益随电脉冲传输时间指数衰减的曲线图。根据增益衰减理论，设计了测量增益衰减系数的实验。实验结果表明：分幅相机的平均增益按0．0249mm^-1指数衰减，电脉冲沿微带线传输的电压幅值衰减系数平均为0．00356mm^-1.得出实验数据中单条微带上增益并不完全符合增益指数衰减规律，而是在最后一帧图的增益有所回升，分析得出这是由电脉冲在微带末端连接处的反射引起的。经多次测量，电脉冲在微带线末端的平均值反射比为24．2％。对增益衰减状况的改善提出建议：采用良导体制作传输线，选取介质损耗小和绝缘性能好的材料作为填充介质，合理设计MCP微带线的厚度、微带宽度及微带与输出面的间距则可减小分幅相机增益的衰减。

信号完整性问题已成为当今高速PCB设计的一大挑战，传统的设计方法无法实现较高的一次设计成功率，急需基于EDA软件进行SI仿真辅助设计的方法以解决此问题。在此主要研究了常见反射、串扰、时序等信号完整性问题的基础理论及解决方法，并基于IBIS模型，采用Cadence．Alkgro软件的Specctraquest和Sigxp组件工具时设计的高速14位ADC／DAC应用景婉实制进行了SI仿真与分析，验证了常见SI问题解决方法的正确性。