介绍一种用ＬＥＤ光柱代替指针表头的好办法，给出该方法的电路及其工作原理。按该方法设计的表头同时具有指针式表头和数字仪表的优点。

利用偶极子及镜像偶极子模型推导出探针扫描样品表面时的场分布，给出数值计算的扫描光强分布。引入光强对比强度概念，获得了该对比值随样品小球间距变化的曲线和该对比值随探针与样品距离变化的曲线。结果表明，当探针在一定高度上扫描时，近场光学显微镜系统存在最小分辨率，而该分辨率随着探针与样品的距离增加而降低。

针对激光惯性约束核聚变辐射的X射线分析，可得到关于等离子体电子密度、温度、电荷分布等重要信息。研究的X射线弯晶谱仪分析器是用来诊断X射线光谱，进而实现对激光惯性约束核聚变的控制。探讨了椭圆弯晶谱仪理论原理，分析了积分反射率和质量吸收系数。弯晶谱仪采用LiF弯晶分析器，椭圆焦距2C为1350mm，椭圆离心率e为0.9586，晶体布拉格角范围为30°至60°。在此对LF弯晶分析器的制作工艺进行详细描述。实验结果表明，该晶体分析器对X射线的分辨率（λ／△λ）可达900以上，能够用来对激光等离子体的X射线光谱进行诊断。

在高能X光辐射照相系统中,通常使用闪烁体材料的转换屏将X光转换为可见光进行探测.建立了转换屏空间分辨率的计算模型,模拟了转换屏的空间分辨率随屏的厚度、材料及X光子能量的变化关系,为系统的设计提供了参数.

在分析三色光栅(TCG)编码滤色器用于数码彩色摄影原理的基础上,完成了黑白CCD像面前加贴TCG编码滤色器获得数字彩色图像的实验.通过对三种编码滤色器的结构分析说明TCG编码滤色器具有提高图像分辨率的潜力.采用TCG和Bayer网格两种编码滤色器进行软件仿真获得彩色图像,这两种图像的对比说明TCG编码滤色器具有彩色还原性好的优点,可形成新型数码相机的基础.

石英晶体在切片过程中由于加工误差会引起两表面的不平行,从而影响对其晶向的判断.为了弥补这种缺陷,需要对上下两表面的倾角进行测量.本文对全自动X射线分选仪的晶体倾角测量问题进行了研究,用位置灵敏探测器探测被晶体反射的激光光斑,推导出了位置灵敏探测器探测到的坐标点随上下晶面夹角的关系式,并进一步分析了不同入射角,不同晶体厚度情况下位置灵敏探测器上的光斑形状.最后得出位置灵敏探测器纵坐标轴上的高度差和上下晶面夹角的近似线性的关系,发现当入射角为20°时误差最小,为5.306 2×10-6mm,选用这一入射角时的系统分辨率和测量范围分别为1.033″和15′.

针对微小物体的无损检测，研制了一套采用X射线敏感CCD的微型X射线数字成像系统，测试了系统的性能。根据选定的E2V公司X射线敏感CCD，采用两片CPLD产生系统所需的各种时序，对CCD进行驱动，设计并制作了CCD驱动电路、模数转化电路、数据采集与通讯电路、图像获取及处理软件等。该系统采用USB2．0接口与计算机进行通信，并采用USB接口电源供电。最后，对系统的性能指标进行了对比测试。测试结果表明：微型X射线数字成像系统的辐射剂量低于传统胶片辐射剂量的20％，系统的分辨率〉10 1p／mm。该数字X射线成像系统具有体积小、结构简单、分辨率高的特点，能够满足牙齿实时诊断以及微细结构无损探伤的要求。

利用时域有限差分法,对镀纳米结构薄膜光纤探针的成像特性进行了三维数值模拟。在考虑光纤和样品相互作用的基础上,采用等效入射波法设置入射波和等高扫描。从成像分辨率和灵敏度的角度比较了不同纳米颗粒与样品间距、纳米颗粒大小、排列方式以及排列密度对成像的影响。结果表明,镀纳米结构薄膜光纤探针的光子隧道显微镜无论在制备的可行性上,还是在分辨率和灵敏度上都有显著的改进。

文中通过对双目视觉系统的研究,建立了双目视觉系统中摄像机分辨率的误差模型,并分析了分辨率对测量结果的影响.从理论上分析了在测量深度Z 方向上的测量误差,发现分辨率误差在Z方向上影响最大,并且目标距离摄像机越远,误差越大,误差与目标深度之间成非线性关系.另外,误差模型还与摄像机的基线距离、有效焦距、像点在感光元件的坐标位置有关.

介绍了气动减压阀国内外标准的概况，通过对气动减压阀的国内外相关标准研究，找出各标准间的差异，包括标准适用范围和测试项目的差别，主要特性的测试回路、检测方法和表述方法的区别，并指出了减压阀可靠性标准ISO19973-4变更前后的技术变化。选取国内某厂家生产的精密减压阀作为实例，按照ISO6953-2的方法要求，测试了分辨率和重复精度等主要特性。