PI-B型感光材料分辨率测定仪

感光材料是信息记录和存储的重要介质,为适应信息科学和技术的迅速发展,感光材料的品种增加及质量迅速提高,对于感光材料质量的测定方法和技术也提出了更高的要求.许多感光材料的分辨率接近甚至超过1 000线/mm,而国内原有感光材料分辨率测定仪已不能满足要求.在这种情况下,本课题组根据国内需要,依照国家标准,研制出PI-A型感光材料分辨率测定仪[1].它采用微机控制,激光干涉自动调焦,自动改变曝光量和焦面位置,并且有目视观察和屏幕显示系统,测量重复性好,受环境影响小,可测定最高分辨率高于1 000线/mm.但是,它结构复杂,电控及自动调焦结构繁琐,不易操作,因此在PI-A型的基础上又研制出结构简单且具有更高重复精度的PI-B型感光材料分辨率测定仪.

1　PI-B型测定仪基本参数的确定

　　PI-B型测定仪基本参数的选择以国家及国际标准[2,3]为依据,在PI-A型测定仪的基础上做了改进.

　　对PI-B型测定仪的基本要求:

　　1)可测定的最高分辨率应高于1 500线/mm.

　　2)可以通过目镜观察,手动调焦.

　　3)可自动过片,从而达到连续拍摄的目的.

　　4)单片机控制,菜单式操作,液晶点阵显示.

　　5)结构紧凑合理,操作简便舒适.

1.1　缩拍物镜和调焦目镜的确定

由于标板在胶片上的像受缩拍物镜的影响,所以物镜也直接影响感光材料分辨率的测定.国家标准规定缩拍倍率为25倍,若直接采用25倍物镜,其数值孔径又过小,所以为了满足分辨率高于1 500线/mm的感光材料测定的需要,并且符合国家标准的要求,故采用数值孔径为0.65,倍率为40倍的平场消色差显微物镜与一个辅助物镜组成缩拍系统.由于辅助物镜与物镜之间为平行光束,因此将目视调焦光路的分光板设置在平行光路中将使光路中的像差最小.为了使观察到的标板像恢复到原来大小,故通过调焦目镜将其放大25倍,其光路参看图1.

1.2　胶片影像清晰度

　　在PI-B型测定仪中是通过调焦目镜来观察标板在胶片上的像,调节至满意的清晰度为止,再进行拍摄,这样必然影响调焦的重复性,故而给成像的清晰度就带来了观察误差.此外,由于胶片生产中的离散性,最佳焦面有可能在感光材料乳剂表面或乳剂层之中,因此只有对乳剂层分层对焦拍照,才能最大限度地克服调焦误差的影响,并找到最佳焦面.PI-A型测定仪在胶片分层拍照时,是以焦面前后移动的形式来对焦,由于基准面与调焦轮联动,故抗干扰能力差,易发生焦面随机漂移.PI-B型测定仪采用基准面固定的方法将胶片稳定压平,然后前后移动物镜来调焦.这样选定的最佳焦面位置不会因过片等干扰而偏离选定的焦面位置,故而重复测量精度有明显提高.