在高能X光辐射照相系统中,通常使用闪烁体材料的转换屏将X光转换为可见光进行探测.建立了转换屏空间分辨率的计算模型,模拟了转换屏的空间分辨率随屏的厚度、材料及X光子能量的变化关系,为系统的设计提供了参数.

在分析三色光栅(TCG)编码滤色器用于数码彩色摄影原理的基础上,完成了黑白CCD像面前加贴TCG编码滤色器获得数字彩色图像的实验.通过对三种编码滤色器的结构分析说明TCG编码滤色器具有提高图像分辨率的潜力.采用TCG和Bayer网格两种编码滤色器进行软件仿真获得彩色图像,这两种图像的对比说明TCG编码滤色器具有彩色还原性好的优点,可形成新型数码相机的基础.

采用有限积分法对用于近场光学显微镜的旋转对称光纤探针进行了数值模拟计算,研究了光纤探针开口附近亚波长范围的电磁场及其能量密度的分布.计算结果表明,在探针外,光场为沿探针轴线方向的近逝波,其空间光场的分布与激励光场及其极化方向有关,在激励光场的极化方向出现了由感应电荷引起的边缘增强效应.同时研究了近场光纤探针的空间分辨率和样品处的电磁场能量,结果表明光纤探针孔的尺寸及其与样品的作用距离是影响探针的分辨率和样品内电磁场能量的重要因素.

研究了荧光谱线分布对共焦荧光显微镜中分辨率的影响,导出了荧光谱线分布的荧光功率传输函数、三维脉冲响应函数.数值计算了荧光谱线均匀分布的情况,结果表明:与采用单一中心荧光波长的分辨率比较,共焦荧光显微镜的横向分辨率、纵向分辨率随着荧光谱线范围和色散的增大而下降;谱线响应范围小的探测器有利于分辨率.

针对短波段成像系统中的散射问题,提出了一种基于反射镜表面粗糙度来计算极紫外太阳望远镜工作波段分辨率的方法。首先分析了两镜系统中散射光线的传播,讨论了反射镜表面粗糙度相对波长的比值与像面光强分布的关系。分频段测量了反射镜的表面粗糙度,利用k-相关模型拟合出全频段的一维功率谱密度（PSD）。数值计算结果表明：在1/D到1/λ（λ为入射光波长）的空间频率范围内,主次镜的有效均方根表面粗糙度分别为0.59nm和0.77nm。利用Ze-max光学设计软件,建立了包含反射镜表面粗糙度测量数据的极紫外（EUV）望远镜非序列模型,该计算模型能够反映出反射镜表面散射对像面分辨率的影响,结果显示,在30.4nm波段,包含80%的能量半径从3.9μm增大到4.3μm,望远镜在工作波段相应的分辨率为0.25″,满足设计要求。

提出一种新型高精度二维水平仪,其核心部件二维水平传感器采用了新设计的十字形弹性簧片结构.该水平仪的测量范围分为±3°20′和±200″;输出非线性度小于0.5%;Ⅱ档分辨率为0.2″;时间响应为1 s.该水平仪还可通过JR-4型接口,直接与计算机连接实现自动化测量.

激光扫描共焦显微术和多光子显微术等新的显微成像技术可以对厚的生物样品实现光学断层成像,因而在生物医学诊断领域具有重要的应用前境.在Fried的一维分辨度理论的基础上,系统地讨论了运用共焦扫描荧光显微术在进行光学断层成像时,其光学断层平面分辨度与信噪比之间的定量关系,建立了实际显微成像系统平面测量精度的定量计算方法.所得出的结果对于选择共焦扫描显微成像系统的最佳参数及评价所设计的显微成像系统的性能具有重要的意义.

数字中间片（DI）已逐渐取代电影洗印厂制作的传统中间片。DI的一个显著优势是能够简便快速地适应每个创作者的需求。空间分辨率、动态范围和色彩处理等对DI质量有着很大的影响。胶片转换到数字是由胶转磁或胶片扫描仪来完成的,这两种设备具有不同的特性。本文从胶片扫描、色彩处理和胶片记录等三个方面较详细地叙述了DI的应用。

RDMS激光测径仪是专门用于棒、线、管材的在线非接触实时测量.采用"真实形状"测量技术,测量不同的形状,为棒、线、管材工厂提高产品质量和自动化控制水平创造有利的条件.提供1μm的分辨率和最高达120 m/s的轧制速度下的在线测量.

在铁路运输生产中，数字式石英电子秒表主要应用在机务、车辆等部门重要工作岗位上。依据JJG238—1995《数字式时间间隔测量仪（试行）》检定规程对数字式打英电子秒表进行检定中存在的几个问题进行分析，提出看法。