采用胶片剂量计测量了低能x射线辐射装置距x射线光管焦斑不同距离辐射野的大小，得出在距离光管焦斑1000mm的参考面辐射野大小及均匀性，并与二维矩阵电离室扫描结果进行了对比。实验结果表明，在距x射线光源焦斑1000mm处，在保证直径为100mm的均匀野的条件下，非均匀性不大于1．5％。在保证非均匀性不大于5％和50％条件下，均匀野大小分别为130mm和145mm，满足了低能x射线空气比释动能基准装置量值复现，国际比对和向下量值传递的要求。

0概述 国际计量局(BIPM)主要任务是研制与保存"国际水平"计量基标准装置,并通过适当的手段将其量值向世界各国初级和次级标准实验室进行传递.为保证其量值的准确与可靠性,BIPM经常组织世界各国标准实验室之间进行有关计量比对与刻度的活动.

文章介绍了包钢镀锌生产线锌层测厚仪测厚的原理、系统的组成、各部分作用、控制过程、数据通信以及现场应用过程中出现的问题和处理的方法。

X射线板带材凸度检测系统采用双X射线源和双排充气电离室探测器,对热轧生产线上的钢板进行厚度和凸度等参数的检测,X射线的能量和强度是决定钢板测厚精度的重要因素。为了保证测量精度,本文依据国标GB/T 15636—2008假定由统计涨落引入的测厚误差应小于±0.06%,在X光机管电压为180 kV、电流为11 mA的情况下,从理论上估算了满足以上精度探测器输出的最大相对标准偏差,通过实验对测厚范围内的钢板进行测量,计算出各路探测器输出在不同厚度钢板时的相对标准偏差。实验结果表明,在满足系统测量速度的情况下,通过对几个原始数据进行平均,可使统计涨落小于理论估算值。X光机设置的管电压和管电流参数满足测厚精度的要求。

在X射线源透射式工业计算机断层扫描成像技术（X-TICT）中，X射线透射物质时，发生了Compton光子散射现象，有用信息连同散射光子一起进入探头形成伪影。因此，必须进行散射修正。利用X射线透射物质时X光子散射遵循的Compton散射强度方程，结合X射线与物质相互作用的特性，建立了有效去除X—TICT在复合材料工件检测中光子散射问题造成的图像伪影的散射修正模型。探头的总计数减去散射光子数，即可有效去除X-TICT在复合材料工件检测中散射光子造成的伪影。

当需要对工件进行准确曝光时，通常需要用阶梯试块测定射线机参数，绘制曝光曲线。实际工作中大多采用一些经验公式设置曝光参数，经验公式通常只有板厚与电压两个参数，当改变参数（如曝光量和黑度等）时，相应经验公式就不再适用，必须更换公式。为避免这种低效而繁琐的工作，必须要有一套包含板厚、电压和电流等多元参数的公式。

为了解决印刷电路板中BGA器件的焊点数字化成像质量差、容易漏检等特点,采用MeteorII-CameraLink型图像采集卡、HAWK-160XI型X射线源以及UNIQ—1800CCD相机为基本组成部件,设计了针对焊点数字化成像的高分辨率X射线缺陷检测系统。在分析了射线源焦点尺寸对成像贡献的基础上,计算出最佳成像效果所需的参数。对于实时采集叠加降噪提出了适合工业应用的帧积分叠加方法,对采集的图像进行叠加显示可以实现较好的实时显示效果。经实验测试,最佳放大率时系统分辨率达17 lp/mm,缺陷分析精度最小分辨率达到0.03 mm,同时给出了测试采集效果图。

研制了一种便携式能量色散X射线荧光分析仪（EDXRF）。激发源采用国产小口径Mo靶X线管，以变频技术设计了配套的高压电源和灯丝电源，探测器为电制冷半导体探测器。通过元素Cu、Zn、Ni、Pb的能谱测量，研究了该分析仪的检测性能和能量定标曲线，并且从理论上分析了其最佳元素分析范围。

介绍了北京同步辐射装置中能X射线光束线(BSRF-3B3)中的压弯聚焦镜;在分析重力带来的面形误差的基础上,给出了重力平衡的方法;建立了修正前和修正后的柱面镜面形误差的数学模型,并通过优化计算,找出了最佳平衡力的作用点和大小.实施重力平衡后,压弯泵系统自重引起的面形误差可以大大减小.

以EMX-SM型电子探针传动机构、分光晶体和谱仪板的调节部件为基础,建立晶体直进波长正比谱仪的失调模型,经过解析,获得反映谱仪状态的直线束方程,推导出聚焦圆正偏离和负偏离判据,得到波谱仪调整方向和具体步骤,结合实例详解谱仪实际调整过程。