单片机测试系统的数据存储和管理

　　引言

　　在自动化测试领域里，单片机测试系统凭借其成熟的应用体系，简单的系统结构以及优良的性价比得到了越来越广泛的应用。近年来，随着新的测试对象不断出现，以及测试手段的不断发展，测试系统的功能越来越完善，各种应用场合对测试系统的要求也日益提高。现在的大多数测试系统不仅要完成工业现场的实时测控任务，同时还要进一步实现对测试数据的实时处理和保存。以往在一般的单片机测试系统中，信息的存储量并不大，系统只须用较少的资源就能实现数据的存储。但是随着存储芯片技术的不断发展，适用于单片机系统的存储芯片已经可以在掉电保护的情况下保存上百KB甚至几MB的数据;同样，目前的单片机测试系统也面临动辄处理并保存上千条乃至近万条测试数据的问题。这对一般的缺少操作系统支持的单片机测试系统来说，是一项相当复杂的工作，因而目前的测试系统往往只能针对具体数值对象进行处理，对大量采集数据采取简单的顺序存储方式。显然，这种方法缺少灵活性，不利于单片机测试系统处理大量测试数据，限制了测试系统在这方面的发展。

　　本文主要针对处理测试数据量较大的一类测试系统，讨论测试数据的存储和管理问题。这类测试系统往往由抗干扰能力较强的单片机和大容量、掉电保护的存储芯片组成，同时配有高精度数字式传感器;造价便宜，性能稳定，适合工作在工业现场，保存和处理大量测试数据，有的甚至能够与上位机组成测控网络完成更为复杂的测试任务。本文将介绍一种应用于单片机测试系统的链式存储方式，能够在工业现场进行实时测控的同时，实现对大量测试数据的保存和管理，在实际应用中取得了良好的效果。

　　大容量单片机测试系统中的存储结构

　　在大多数自动测试系统中，测试数据的逻辑结构一般都会遵循线性逻辑关系，即数据元素在时间或者空间顺序上只分先后次序而不存在上下层次。因此在设计存储结构时往往采用顺序存储结构，其优点在于处理线性数据结构时速度快，而且结构简单。

　　但是上述情况在前文所述的大容量测试系统中并不是普遍适用的。大容量测试系统虽然同样是线性逻辑结构，但其测试数据变化多样，构成数据元素的内部结构也非常复杂，而且系统又要执行数据保存和数据查询等多项指令操作，如果再应用顺序存储结构就会面临许多问题。

　　首先，测试系统经常会面临一些较为特殊的测试对象。其测试信息较为复杂且数据长度不固定，显然不利于采用顺序存储结构。假设系统按照时间或空间上的逻辑顺序来进行顺序存储，那么对存储空间的分配将成为难题。若分配空间过大，则影响存储效率;反之，又会出现数据溢出的情况。类似地，假设系统能够安排好数据的存放空间，在进行数据查询、数据删除等操作时系统也会显得力不从心。