基于主从式双处理器的光纤比色测温仪软件设计

　　介绍一种基于DSP和MCU双处理器的内调制光纤比色测温仪的设计原理。测温仪以AT89C55和TMS320F206为核心，对内调制光电探测器进行线性补偿和温度补偿，并加入比辐射率的修正。本系统能够对环境温度变化大、周围环境恶劣的高温物体进行高精度的温度测量。

　　在冶金、钢铁、建筑材料、化工等众多行业中，温度是确保顺利生产和质量控制的重要参数。温度测量直接关系到产品的质量，关系到生产成本。熔融状态下，钢、铁温度在1200℃以上，主要测量方法有接触式的金属热电偶温度计和非接触式的辐射温度计。

　　内调制光电管利用内调制机制，把高温物体辐射出的光信号直接转化为受调制的交流信号，方便了后级放大处理，简化了测试设备，克服了直流放大的缺点，为提高系统信噪比和可靠性奠定了基础。笔者对利用内调制探测器进行高温测量开展了多年的应用研究，并研制出了基于单片机的光纤比色温度仪;

　　基本上能完成温度测量的功能。从武钢连铸、济钢转炉等生产现场的使用情况看，仪器还可以进一步改进。由于单片机先天数据处理能力不足，当要建立较为完善的处理模型，例如进行线性补偿及温度补偿;

　　发射系数修正、甚至进行四比色测温时，面对大量的数据要进行复杂快速的处理，单片机已不可能实现实时测温。引入DSP对数据进行高效处理，强有力地提升了测温仪的功能。采用主从式双处理器结构能较好地解决这些问题，并且还具有进一步开发的潜力。

　　1 系统测温原理

　　从经典物理学的观点看，任何黑体都会向外辐射能量，其辐射出度与温度及波长有关，具体有普郎克定律和维恩定律描述。而物体的比色温度简称色温是指如果黑体与实际物体在某一光谱区内的两个波长下的单色亮度之比相等，则黑体的温度为实际物体的颜色温度。

　　根据比色测温原理，假设两路不同波长辐射转换后的光电流分别为I1和I2，T为待求温度，则可以写出：

　　I1=Mλ1D1 (1)

　　I2=Mλ2D2 (2)

　　式中，M是单色辐射出度，由维恩近似公式得到



　　由此可以得到：

　　D1和D2分别为两路系统的系数，C1和C2分别为普朗克第一、第二辐射常数。当λ1和λ2两单色波长接近时，求出两路光强比值，即可以计算出被测物体的温度T。

　　2 系统结构及设计

　　2.1 系统的信号处理总体流程

　　测温仪系统主要由内调制光电探测器、前置模拟处理部分和以单片机、DSP为核心的双处理器控制及处理部分构成。