覆层测厚仪测量时的现场校准

　　覆层测厚仪广泛应用于制造业、金属加工业和化工业等行业的生产检验、质量控制以及质量监督检验。随着对工业产品表面保护、装饰形成的覆盖层厚度的测量与控制的要求不断提高，这些覆层如涂层、镀层、敷层、贴层、化学生成膜等厚度的测量技术及仪器的发展也不断加快，覆层厚度的测量已成为工业产品表面工程质量控制检测的重要一环。

　　笔者在对覆层测厚仪的检定工作中，常常碰到客户来咨询已经检定合格的覆层测厚仪在实际测量时，测不准、测量误差较大等问题。这些问题大多数都是对仪器的测量原理和性能了解不够，不能正确掌握仪器现场校准方法所致。特在此针对性地探讨基于磁感应测量原理、电涡流测量原理的覆层测厚仪在测量时仪器现场校准的有关问题。因为现场校准方式的正确与否直接关系到测量结果的准确性和可靠性。

　　1仪器使用时的特殊性

　　覆层测厚仪的使用比较特殊，它与很多长度测量仪器不一样。大多数的长度测量仪器经检定合格就可直接使用，不需随时校准。而覆层测厚仪在使用时的特殊性为:

　　(1)覆层测厚仪在测量时，必须先校准，再测量。因为测量结果的准确性与待测试件的基体材料、基体表面粗糙度、待测部位的几何形状、测试周围环境的电磁干扰等因素都有密切的关系。只有关注到了这些相关因素和条件，选择正确的现场校准方式，才能获得较为可靠的测量数据和结果。

　　(2)覆层测厚仪分为AA，A，B，C，D五个级别。由于各个厂家生产的覆层测厚仪具有不同的技术参数和功能，使用者首先要详细阅读仪器使用说明书，并结合检定证书，查清仪器的测量范围、示值最大允许误差、示值重复性等重要技术参数，并严格按照说明书的使用操作程序进行测量。

　　(3)仪器所带的基体主要用作检查仪器是否正常，而不能用作在实际测量时对仪器的校准，这一点很多使用者并不十分清楚。往往很多用户就用仪器所带的基体和校准用的厚度片校验一下仪器，若仪器正常，就开始进行测量，随之而来的测量误差就产生了。这种测量误差常远远大于仪器的示值最大允许误差。其原因是:磁感应式覆层测厚仪用于测量磁性金属基体上的非磁性覆层的厚度，电涡流式覆层测厚仪用于测量非磁性金属基体上的非导电覆层的厚度，一3〕，它们都是基于被测基体的电磁物理特性以及基体与探头的距离来测量覆层厚度的。被测基体的电磁物理特性与几何尺寸都会影响磁通、电涡流的大小，从而影响测量结果，也影响到了测量的可靠性。

　　例如，合金工具钢和低碳钢的磁物理特性不一样，不同种类铝合金、铜合金等的导电物理特性也不一样，所以在实际测量时，应当选用与待测试件基体相同的材料作为校准仪器用的基体，若能够选用没有覆层的相同被测件作为现场校准的基体则更好。用此基体和校准厚度片按仪器使用说明书的要求和规定校准好仪器，然后再进行测量。