K荧光x参考辐射及其照射量测量

　　按国际标准1504037研制的K荧光X参考辐射，性能基本符合该标准的要求，其能量范围为8.64一98.4keV。用校准过的薄窗电离室测量了参考辐射的照射量率。该参考辐射已用于校准X、下剂量仪并剂量率仪并测定其能量响应。

　　1955年Larson[1]〕首先使用K荧光X辐射测量X、y剂量仪的能量响应，70年代Kathren[2]和storm[3]使K荧光辐射装置更为完善。1979年国际标准化组织(IS()正式把K荧光X辐射作为校准剂量仪和剂量率仪并测定其能量响应用的X参考辐射[4]。1986年我们按照1504037建立了K荧光X参考辐射并测量其照射量率。

　　1荧光x参考辐射装置

　　装置由X射线机、辐射体、初级过滤器、次级过滤器、初级光阑、次级光阑以及监测电离室所组成，如图1所示。

　　所用X射线机是国产F34一1固定式X射线深部治疗机，管电压为50一250kV连续可调，管电流内2一20mA。

　　K荧光辐射体的材料列于表1。材料的纯度高于99.9%。

　　初级过滤器用于过滤初级辐射中对K荧光辐射的产生无贡献的低能成分。对于锌辐射体，初级过滤器为0.5mm厚铝片，而其他辐射体均为1mm厚铝片。

　　次级过滤器用于消除L谱线和减小K，谱线相对于K.谱线的强度比，其材料也列于表1。

　　初级光阑置于X射线管输出窗处，把激发射线束的面积限定在辐射体面积内，以避免来自辐射体支架等产生的散射。次级光阑限定荧光辐射束的张角，以减小环境的散射。

　　捕集器用来捕集初级辐射，以防止初级辐射在散射后对荧光辐射的影响。本装置曾采用具有适当入口的捕集器。在我们的实验室中，由于有隔墙和铅皮屏蔽，所以不用捕集器。辐射体相对于初级射线束轴线形成的角度为45’，而荧光射线束轴线与初级射线束轴线的夹角为900。

　　为了监测K荧光X辐射产生的照射量率的稳定性，采用被窗电离室[5]作为监测电离室。

    2K荧光x参考辐射的性能指标及其照射t率的测量

　　2.1辐射场的均匀性

　　由于K荧光辐射场照射量率较低，不宜用小型电离室测量该辐射场的均匀性。我们采用了医用胶片进行场均匀性的测量。在胶片到辐射体中心的距离分别为35、60和100。m时，95%均匀区的直径相应为7、10和16cm。

　　2.2K荧光X射线谱的测量

　　用本院研制的平面型高纯锗谱仪测量了K荧光x射线谱。高纯锗晶体面积为200mm，，厚度为8mm，被窗厚为0.1mm，选择的工作偏压为负1600V，能量分辨率为0.67kev(对241Alll的59.5kev的下谱线)。校准源是241Am的57Co放射源。实验安排是:K荧光X射线束用两个光阑限束以减小堆积现象;两光阑直径分别为1~和5~;射线束和两光阑的轴线与探测器中心调节在同一直线上。所测出的民，能量E列于表2中。测得的凡能量与论值最大相差为1.6%，这可能由所用放大器的不稳定以及能量校准的非线性所引起的。图2是铀辐射体的K荧光谱。