直流电子称重仪表辐射抗扰度测试

　　射频辐射抗扰度 (RS) 测试是 GB/T 7724-2008 《电子称重仪表》[1]中规定的电子称重仪表取得计量型式批准证书必须要过的测试项目。本文以某型直流电子称重仪表射频辐射抗扰度测试为例，总结出仪表 RS 测试的一些基本方法和措施，供大家借鉴。

　　1 仪表结构

　　试验中使用的某型直流电子称重仪表，整体采用铝合金外壳，薄膜开关样式。硬件部分电源采用直流 24V 电源，电源前端滤波电路如图 1 所示，仪表内部电路通过 Y1、Y2 安规电容接保护地Earth，同时外壳与保护地相接。ADC 采用 24 位模数转换芯片 CS5530。显示采用 0.8 inch 6 位数码管显示。线路板采用 4 层板结构，以增强抗电磁干扰能力。

　　2 测试标准和方法

　　根据 GB/T 7724- 2008 《电子称重仪表》 和GB/T 23111- 2008 《非自动衡器》[2]中规定电子称重仪表 RS测试标准如下：

　　频率范围：80MHz- 2000MHz;

　　场强：10V/m;

　　调制：80%AM，1KHz，正弦波;

　　最大允许变化：在有干扰和无干扰情况下测试，示值变化不大于 e 或衡器应检测到显著增差并对其作出反应。试验在半波暗室中进行，试验设备、设置、程序按照 GB/T 17626.3[3]规定执行。其中特别需要关注布线问题，以免影响试验结果，必须遵守“从受试设备引出的连线暴露在电磁场中的距离为1m”的规定。测试中电子称重仪表引出的连线，例如电源线和传感器信号线，必须暴露在电磁场中的距离为 1m，如图 2 所示。

　　3 测试与实验整改

　　仪表设置：

　　10mV 信号仪表标定 200000 内码，每个 e 对应 20 个内码;

　　信号源采用电阻应变式传感器，信号线采用屏蔽线，传感器弹性体连接屏蔽线，屏蔽线再连接仪表外壳接地;

　　仪表关闭零点跟踪，蠕变检测等辅助功能，同时工作在内码显示状态。

　　3.1 初始结果

　　按照上节的测试标准和方法进行测试，这边需要指出的是传感器必须稳定一段时间，以消除环境等因素的干扰[4]。根据以往测试经验，仪表敏感频段主要集中在低频 (80MHz- 1 GHz)，故测试时以低频为主，测试结果如表 1 所示。

　　从表 1 中我们可看出，仪表受辐射干扰主要在低频段 (80MHz~200MHz)，水平辐射仪表内码变化 22，垂直辐射抗扰内码变化 15，水平辐射受到的干扰明显大于垂直辐射，水平辐射仪表内码变化超过 20 个内码，超出国标规定范围。同时可看出 80MHz~90MHz 和 100MHz~130MHz 这两段为敏感点。水平辐射和垂直辐射敏感点大致相同，试验以水平辐射整改为主，水平辐射合格后再验证垂直辐射。