磁粉检验用B型环的评价

　　B型试块是MH/T3008一2004《航空器无损检测磁粉检测》标准推荐的用于检验三相全波整流设备系统性能的标准试块，简称B型环。在该标准的附录E中，规定磁化电流对应B型环应显现的孔数，以此评定设备系统性能是否合格。如果显现的孔数达不到要求，则表明设备系统不合格。B型环又称为KetoS环或Betz环。KetoS环使用ASTM E1444一01/。5《磁粉检测》标准。目前，环型试块被广泛用于国内外航空航天制造和维修领域。

　　标准中对于磁化电流对应显现的孔数的要求，B型环与KetoS环是相同的。但是在应用中，笔者发现B型环显现的孔数与标准规定的孔数存在明显差别。例如， MH/T3008一2。。4标准规定，磁化电流在 1400A时，B型环应显现3个孔，但实测时显现了6个孔;当实测电流在500A时，B型环就很容易显现3个孔了。另外，在 ASTME1444一01/。5标准中除了KetoS环以外，又引入了AS5282环。这两种环在相同测试条件下(设备、磁化电流、磁粉浓度等均相同)，要求显现的孔数却不一样，AS5282环显现的孔数多于KetoS环的孔数。相关的标准或资料显示，三种环的外观尺寸、材料以及硬度要求基本相同。表面看起来，三种环没有差别，但实测结果明显不同。

　　作为标准试块，如果标准不统一、要求不一致，就无法准确评定系统性能。因此，理清B型环与KetoS环或AS5282环之间的关系，明确使用要求很有必要。

　　1国内外现状

　　1.1国外现状

　　通过查阅相关资料发现，自从环型试块使用以来，有关材料与制作、使用和标准化等问题一直存在争议。

　　据资料巨l一4]介绍，KetoS环的使用是20世纪40年代由Betz提出的，目的是用于验证磁粉方法对零件F表面缺陷的检测能力(由此有人称为Betz环)。此后，Botz等人通过对比测试发现，不同的磁化方法、磁粉类型、磁悬液浓度以及热处理状态，会影响显现的孔数。20世纪80年代，Hagemaier等人对86件KetoS环进行了对比测试，结果表明，86件环的材料和硬度值基本相同，但是在相同磁化条件下，各环显现的孔数却不尽相同。例如， 2500A(FW玖’)电流时，显现最少4孔，最多的有n个孔;对显现5个孔的28件环重新进行退火处理并再次测试发现，经过退火处理的所有28件环显现的孔数达到9或10个孔。分析认为，显现孔数的差异是由于表面磁导率或剩余漏磁场不同产生的，未经退火处理或不合理的退火工艺是产生差异的原因。由此判断出.当年Betz使用了不合理退火工艺处理的环做试验，该试验数据(电流 1400， 2500和 3400A时，分别显示3，5和6个孔)被MIL一ST仆1949采用，作为环的测试标准颁布。这种不能称之为“标准”的环却作为标准试块，已经使用了至少25年之久。