一种用于高精度ADC片上测试的信号发生器

　　0引言

　　随着工艺的进步以及深亚微米集成电路技术的不断发展，芯片的集成度越来越高，芯片的规模也越来越大。在无线通信、图像处理等各个芯片应用领域，越来越多的系统芯片(SoC)选择将各个功能不同的模拟电路模块和数字电路模块集成在同一芯片中，以便在整个系统的性能达到最优的同时使成本降到最低。但这却给芯片的测试带来了意想不到的困难，也使得测试成本大为增加。ADC作为连接数字系统和模拟系统的桥梁，其测试显得格外重要。随着ADC性能的不断提高，芯片外部环境也已经成为ADC测试的主要障碍。为了解决上述问题，同时更准确地测试ADC作为IP核集成到SoC中工作时的真实性能，各种ADC的内建自测试(Built-In-SelfTest)方法应运而生，而如何精确而高效地为ADC内建自测试提供测试激励是一个非常关键的问题。本文提出一种可用于ADC片上测试的三角波信号发生器的实现方法，产生的三角波具有非常好的线性度，可以满足14b高精度ADC的测试要求。整个设计采用UMC0.18μmCMOS工艺实现，电源电压为1.8V。

　　1三角波信号发生器的设计约束

　　码密度直方图测试法基于统计学，用该法对ADC的静态特性进行测试时所加的测试激励必须尽量接近理想，在本文中也就是要尽量获得精准的三角波。如果获得的三角波信号存在非线性或增益误差，则用该信号去测试一个理想的ADC，测得的码元的直方图分布就会不均匀(如图1所示)，这种不均匀来自测试激励本身的误差，所以由此测得的ADC的积分非线性(INL)和微分非线性(DNL)就引入了误差。这样一来，测试结果的精确性很大程度上取决于所加三角波信号的精确度。所以，在设计三角波发生器时，必须根据被测ADC的性能指标来确定所需要的三角波发生器的线性度以及幅度。本文所设计的三角波信号发生器要满足精度为14b的ADC的测试要求，那么其精度要求必须不低于16b。

　　2三角波信号发生器的原理

　　产生三角波信号的原理是用一个恒定不变的正向电流对电容进行充电得到一个均匀上升的斜波电压，当电压上升到一定值时再用一个恒定不变的负向电流对电容放电，从而得到一个均匀下降的斜波电压，交替用正负方向的电流对电容进行充放电，就可以得到连续的三角波电压信号，上升和下降的斜率由正负向电流与电容的比值I/C决定。为了满足ADC测试的要求，三角波信号应具有较好的线性度，同时也要保证较低的斜率，这就需要一个精确的小电流和一个较大的电容。

　　图2描述了三角波信号发生器的原理。图中运算放大器、电阻R、电容C组成一个方波积分器;比较器、电阻R1、电阻R2组成一个迟滞比较器作为一个反馈控制电路。电路的工作过程如下：