微晶玻璃板材的平面度测量

　　微晶玻璃板材是一种新型建材，平面度在线检测是微晶玻璃板材生产企业质检的一个重要环节。由于现有的磁砖平面度测量工具与方法不可能对面积超过1m2的微晶玻璃板材的平面度进行测量，而水平仪和自准直仪对平面度的测量方法不可能对大批量生产出来的每一块微晶玻璃板材实现直观、便捷、快速地平面度测量。在当前对微晶玻璃板材平面度测量没有相当成熟的测量方法时，使用检验平板(花岗石或铸铁)、等高支承块、百分表、百分表支架和平板千斤顶组成一个测量装置，能够以较少的投资，达到快速测量目的。

　　一、测量原理

　　这种测量方法的工作原理是将一块面积较大的一级平板作为测量基准面，以一组等高块尽量消除因支撑不匀而引起的平行误差，在测量中把微晶玻璃板材的玉脂层的一面向下，置于等高块上。在测量中将百分表装于百分表架上(为使不符合阿贝原理的因素减少到最小程度，应将百分表尽可能地靠近百分表架的垂直支撑杆)，将百分表测量头压缩一定距离与微晶玻璃板材玉脂层面相接触。移动百分表架完成测量工作。在测量时要完整地做好原始记录。

　　二、具体实施力一案

　　1.测量工具及附件

　　平板(花岗石、1级、2000mmx2500mm)、百分表或电子百分表(0mm-5mm,1级)、百分表架、等高支撑块俘个、300mm±0.005mm)、平板千斤顶(4个)。

　　2.操作方法

　　(1)将4个等高支撑块放于平板上，根据被检微晶板的大小尺寸调整四个支撑块的距离。推荐距离0.21L(L为微晶板的外形尺寸)。

　　(2)将微晶板玉脂层放于4个支撑块上。

　　(3)将百分表表头指向玉脂层，装夹于百分表架上。

　　(4)安装好的百分表表头移至被检微晶板下，将百分表测杆压缩1.5mm左右，测头与玉脂面接触。

　　(5)移动表架使百分表测头与被检微晶板的一个角接触，百分表盘调整到零位，作为起始点，并做好测量记录。

　　(6)移动表架作对角线移动，每隔直线距离的1/4处作下一点的测量记录点。

　　(7)做完一条对角线的测量再做另一对角线的测量，方法同上。

　　(8)两对角线测量完成后，再用相同方法对被检微晶板的纵横向各自再做等距离s条线的测量工作，并做好每条线上的s个等距离点的测量记录。

　　(9)分析测量记录，则记录中最大差值就是该板的平面)变偏差。

　　3.测量不确定度的简单分析

　　(1)数学模型

　　由于企业标准规定优等品平面度公差最小为0.8mm,平面度要求不高，故可取数学模型为F=αmax-αmin。