基于数字图像处理技术的测量工件平行度的新方法
本文主要介绍了一种测量管状件轴线平行度的新方法.该方法采用激光准直技术结合数字图像处理技术来进行管状件轴类工件的两轴或多轴平行度的测量.其优点是无损检测、测量精度较高、易于实现整个测量过程的自动化和智能化.
基于机器视觉的线阵CCD相机成像几何模型
以研究机器视觉技术在运动的流线体类型的工业品在线质量检测领域的应用为基础,重点地研究线阵CCD相机结构、成像原理、成像方式及外部条件,分析了CCD相机成像误差来源及相关解决方法,探讨了线阵CCD相机在质量检测领域的成像模型的具体应用模式,并结合具体的实例内容进行了验证,证明了线阵CCD相机的成像几何模型在这一领域的应用性和适用性,为线阵CCD相机在机器视觉系统中大规模的应用提供了可靠的借鉴意义。
黑白CCD相机平场影响因素分析及校正方法研究
实用的黑白CCD相机,由于受到诸如光源的不均匀性、光敏单元本身响应差异、暗电流及偏置等因素的影响,对于一个友度均匀的目标,可能会输出强度不均匀的图像,这将对后续图像处理中的目标特征提取及测量不利。针对此问题,对影响黑白CCD平场的因素进行了分析,并提出了一种通过获取暗本底图像数组及标准白图像数组对图像进行校正的方法。实验表明,该方法能够取得理想的效果。
高速CCD相机图像卡接口电路的设计
针对多通道CCD相机,提出了一种图像数据实时采集和图像显示的方法,CCD的数据采集和图像显示由图像卡完成.CCD相机与图像卡的数据传输的硬件接口按标准RS-422串行接口设计,这种差分方式传递信号方法能有效抑制共模信号,提高数据在传输中抗噪声能力.利用高速硬盘解决了大容量、高速度、多通道的图像数据的实时采集和存储问题,通过多线程处理来从软件上弥补硬盘读写速度不足的缺陷:将采集到的CCD相机数据转换成标准BMP文件来显示图像.
MSC794型CCD相机点扩展函数及噪声响应特性的测量
用白噪声方法测量了JEOL JEM2010(FEF)透射电子显微镜配备的MSC794型CCD相机的点扩展函数PSF(point spread function).在恒定的均匀入射电子束强度下,用改变曝光时间的方法改变CCD相机的曝光量(计数)的方法,得到了该CCD相机的噪声响应特性.将测量结果用于图像复原,得到了衬度更好的电镜图像.复原之后的图像数据,可以用作定量电子显微学分析.
CCD相机的锁相设计
介绍了锁相环的基本原理和工作过程,利用CXD2463R的外同步功能,运用分解设计的思想设计CCD相机的锁相环,给出CCD相机的锁相环原理图。叙述了有源低通滤波和压控晶体振荡器工作原理,提出了降低CCD相机锁相环噪声的一些措施。
基于测量最小可分辨对比度的CCD相机成像质量的评价
针对评价CCD相机成像质量MTF方法的缺点,引入了最小可分辨对比度MRC这个评价指标,并研制了相应测量MRC的系统.在这个系统中采用两个重叠积分球分别对靶标的正反两面照明,通过改变这两个积分球的亮度就可以获得可变的对比度.实验结果表明:测量MRC系统测量亮度的误差可控制在±0.3cd/m^2以内;CCD相机的MRC随着空间频率的增加而增加;测量CCD相机的MRC是评价CCD相机成像质量的一种快速有效的方法.
CCD相机移测装置的设计
为提升PIV系统的可用性、适用性和试验效率,根据移测装置的技术指标及要求,按照有关国标和设计规范进行了CCD相机移测装置的设计,包括移测装置的机械设计和移测装置的控制系统设计。并对移测装置的组成、功能和特点作了简要介绍。结果表明,该设计能使CCD相机移测装置满足PIV系统在风洞实验中的工作特点,使整个系统更加高效。
CCD相机靶面倾斜误差修正应用研究
分析了光电经纬仪CCD相机靶面倾斜所带来的测量误差,解析了靶面倾斜时目标相对于光电经纬仪视轴的真实脱靶量和CCD靶面所读出的脱靶量之间的数学关系,给出了倾斜检测的方法及误差消除的数学公式,实践证明,本方法能较好地修正对CCD相机靶面倾斜对装备测量带来的影响,提高了测量精度。
骨架密封圈机器视觉检测装置设计及应用
为提高骨架密封圈外径尺寸和边缘缺陷的检测效率,降低检测人员的劳动强度和漏检率,研究一种基于机器视觉原理的检测装置,在分析密封圈质量要求的基础上对检测装置进行总体设计。依据密封圈的结构形状和尺寸精度要求,设计检测装置的硬件结构,光学系统的硬件主要包括BaslerCCD相机、OPTO远心镜头、OPT照明光源等。采用白色LED光源的背光照明方式获取密封圈轮廓形状,利用CCD相机和远心镜头作为图像传感器采集密封圈图像轮廓特征。利用HexSight视觉软件对密封圈图像进行灰度化处理、噪声滤除和二值化处理等步骤,以完成图像处理和分析,通过质心提取和边缘角点提取等步骤完成检测。结果表明:该检测装置能准确判断密封圈的尺寸精度,检测精度可达0.23 mm;边缘缺陷能被准确识别,其识别率能达到检测要求。