介绍了一种PIN模块线性度参数测量的典型方法及测量系统并对测量误差的主要来源进行了分析阐述了测试系统性能和环境温度变化对测量结果的影响。

设计了电子芯片冷却实验装置,对热电制冷器在电子芯片冷却中的冷却效果和制冷性能进行了研究。实验结果表明,不仅热电制冷片热端冷却水流量是影响冷却效果的重要因素,而且热电电流和芯片功率与热电冷却性能也有着密切的关系。实验结果对热电冷却器的最佳冷却性能的确定具有一定的参考意义。

根据二氧化硫气体在短波长光激发下能发射荧光的机理,研制了一种监测其含量的荧光光纤测量仪,仪器采用10 Hz脉冲驱动的氙灯作为激发光源,结合光纤传感和PIN PD技术,实现了对二氧化硫气体含量的在线测量.同时,改变仪器的某些参数如滤光片的中心波长等,还可以进行其他气体含量的测量.

阐述了一种新型智能激光功率计设计的基本原理，在此基础上研制出的智能激光功率计具有自动识别激光波长、实时激光功率显示等功能，自动化程度高，并且可实现0．1～100mw或1～5W激光功率的精确测量。

采用射频磁控溅射的方法制备了TiO2／ZnO复合薄膜，用XRD、SEM和UV—Vis分别表征TiO2／ZnO薄膜的晶体结构、表面形貌及其紫外-可见光吸收谱。并用此材料制备了Au／TiO2／ZnO／Au结构MSM光电导型薄膜紫外光探测器，研究其光电特性。实验结果表明，TiO2／ZnO紫外探测器在5V偏压360nm紫外光照下光电流约为500μA，其响应度为100A／W，平均暗电流约为0．5μA；由于TiO^2／ZnO复合薄膜之间的费米能级不同而形成的内建电场作用，减少了产生的光生电子与空穴的复合，得到较强的光电流，且其光响应的上升弛豫时间约为22s，下降响应时间约为80S；响应时间较长是由于广泛分布于薄膜中的缺陷而造成的。结果表明TiO^2／ZnO可作为一种良好的紫外探测材料。

在采用大面积半导体激光器阵列进行泵浦时，由于能量密度等因素，必须把泵浦光会聚到很小的面积上。而空心导光管作为一种良好的耦合器件，不仅能够实现匀光缩束的功能，还具有高效、简洁、可控制光斑形状等优点。在阐述了采用Duct进行半导体激光器阵列缩束整形的原理后，通过对Duct近似模型的分析，得到了Duct的优化结构参数，并通过光线追迹得到了Duct输出光斑的特性。

利用多极法对一种新颖结构的双层芯光子晶体光纤的色散特性进行了数值模拟，找出色散随结构变化的规律。通过合理选取其外层芯的层数，同时优化孔间距和空气孔直径，设计出可用于L波段进行宽带色散补偿的光子晶体光纤，此光纤色散值在-310 - -260ps／（km·nm）之间近似线性变化，残余有效色散系数近似为零，相关色散斜率（RDS）在0．0032nm叫的色散补偿光纤，其RDS值与标准单模光纤匹配，有效模场面积优于常规色散补偿光纤，可以对宽带传输的标准单模光纤实现良好的色散补偿。

圆形薄膜周边夹持预应力调节对静电薄膜反射镜面形的成形质量具有重要的调节作用。分析了180mm口径的静电薄膜反射镜边界位移的调节范围,计算出了相应调节极限,并结合静电拉伸薄膜实验进行了四种边界位移调节工况的验证。预应力施加过大会造成电极施加电压增高,严重时造成薄膜击穿,但预应力施加过小会造成面形质量不佳。最大边界位移调解量影响薄膜反射镜结构参数和所施加电压,同时薄膜反射镜结构参数和所施加电压也限制着最大位移边界调解量的取值。合理选取并精密控制圆薄膜的边界位移量对于大口径静电薄膜反射镜的精确成形来说至关重要。

光通过二维金属亚波长孔（孔的直径不超过入射光波长的一半）阵列（TDMSHA）时，由于入射光与金属表面自由电子的电荷密度波发生共振耦合作用，会在特定的波长内表现出窄带透射增强。TDMSHA对光具有的透射增强与滤波特性在纳米光学、光电子、化学传感和生物物理上都有着十分重要的潜在应用。文中回顾了该特性的研究历史，详细地阐述了其发生的物理机理，对近十年来该特性在机理、材料、结构等方面的研究进展作了总结，对其前沿研究热点和应用前景分别进行了分析与展望。

结合光子晶体光纤（PCF）和拉锥的优点设计了一种色散平坦渐减PCF，用于在通信波段产生宽带超连续谱，并对该光纤中超连续谱的产生进行了详细的研究。结果表明：经过合理设计的PCF可以同时具有色散平坦和色散渐减的特性，并且其色散曲线沿光纤长度由反常色散区逐渐移动到正常色散区。这样的色散特性适合于产生宽带平坦的超连续谱。超连续谱形成的过程中以自相位调制效应为主，高阶非线性效应也起一定的作用，其中以拉曼散射效应的影响更为显著。另外，拉锥长度、光纤色散参量的渐减方式以及抽运脉冲的有效峰值功率和宽度对平坦超连续谱的产生均有着重要的影响。