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基于光电技术的圆度测量

作者: 纪小辉 陈彤 刘楠 来源:工具技术 日期: 2024-08-19 人气:30
基于光电技术的圆度测量
圆度误差的测量是长度计量中一个重要项目,它的测量常转化成对位移的测量。本文采用光电技术对其进行测量,提出了一种基于理想光组轴向放大率理论来实现微位移的放大,并通过采用位置敏感探测器(PSD)将光斑像点的位移转化为电信号的输出,从而实现位移与电信号的转化;在测量圆度的同时,采用圆光栅来测量工件转角,实现整周的圆轮廓实时记录;对于圆度误差的评定采用最小二乘法。

动态微位移量的自动干涉测量系统

作者: 王青 来源:南京理工大学学报:自然科学版 日期: 2024-04-08 人气:27
动态微位移量的自动干涉测量系统
该文介绍一种可进行动态微位移测量的自动干涉测试系统。

一种新型三自由度微定位新方法

作者: 万佩 秦岚 薛联 段莹 来源:国外电子测量技术 日期: 2024-04-07 人气:31
一种新型三自由度微定位新方法
设计了一种基于压电陶瓷的三维微定位系统,通过12个空间分布的压电陶瓷微驱动器及4个工作平台的配合,实现X、Y、Z向的精密位姿控制。阐述了微定位原理、建立了载物台位姿与压电陶瓷微驱动器伸缩量之间的关系,介绍了系统误差来源以及微定位装置的构造。该研究可望为一些高科技领域的微进给提供实用新技术。

一种新型GRIN透镜光纤加速度计的研究

作者: 陶发 王惠南 来源:光子学报 日期: 2024-03-13 人气:16
一种新型GRIN透镜光纤加速度计的研究
研究了一种新颖的光纤加速度计,阐述了三光纤GRIN透镜加速度敏感元件的工作原理及其结构设计.该传感器包括三根光纤、一个GRIN透镜和一个质量块.根据光功率耦合原理,对透镜倾斜时的误差进行了定量分析.该加速度计具有结构新颖、体积小和灵敏度高等优点,是一种具有多用途的加速度传感器.

一种用于压电驱动微动工作台的测控系统

作者: 吴才章 林伟 叶梅 叶虎年 来源:压电与声光 日期: 2024-03-06 人气:4
一种用于压电驱动微动工作台的测控系统
研究了压电陶瓷驱动器特有的迟滞和儒变特性,针对它的这些非线性特点,给出了一种有效消除这些非线性误差的闭环控制方案.采用高精度A/D和D/A转换芯片,设计了基于PC机并行增强口EPP协议的控制板.在自行设计高压驱动电路的基础上,研制出了用于纳米级定位的数字闭环控制器.测试结果表明,此控制器很好地克服压电陶瓷驱动器的非线性特性,系统定位精度优于10 nm.

基于AFM的微位移测量新方法研究

作者: 陈英飞 章海军 来源:光学仪器 日期: 2023-11-30 人气:4874
基于AFM的微位移测量新方法研究
提出了一种测量物体微位移的新方法.原子力显微镜作为测量工具,样品和扫描器置于待测物体上,物体每移动一定距离就由AFM扫描获得一幅样品图像,由此获得一系列连续的序列图像.采用模板匹配方法检测相邻序列图像的偏移,从而可计算出物体的微位移.实验结果表明,用该方法还可实现物体二维方向的微位移测量,且精度达到纳米量级.

电感式微位移测量仪的设计与实现

作者: 石成英 李忠科 林辉 岳开宪 来源:自动化仪表 日期: 2023-11-20 人气:4
电感式微位移测量仪的设计与实现
介绍了一种电感式微位移测量仪的设计与实现.该仪器以单片机为中心,采用电感式位移传感器和液晶汉字显示等技术实现了微位移的自动测量、显示、打印及通信.论述了仪器的设计思想,重点介绍了该仪器的组成与数字滤波器的设计.

白光干涉检测仪微位移系统的精确控制方案

作者: 邹文栋 赵立忠 来源:南昌航空大学学报(自然科学版) 日期: 2023-11-13 人气:3
白光干涉检测仪微位移系统的精确控制方案
针对小电容压电陶瓷特有的迟滞曲线,建立实验系统采集压电陶瓷微位移器的位移-电压数据,然后用最小二乘法建立数学模型;通过计算机程序控制压电陶瓷驱动电压,实现了白光干涉检测仪微位移系统的开环控制,总位移20μm,精度可达0.03μm,并且给出了控制程序的流程图。

超磁致伸缩微位移驱动系统的研究

作者: 杨兴 贾振元 文东辉 郭东明 来源:制造技术与机床 日期: 2023-11-13 人气:9
超磁致伸缩微位移驱动系统的研究
超磁致伸缩材料是近年来发展起来的一种新型功能材料,具有在室温下应变量大,能量密度高,机电耦合系数大等特性.文章分析了超磁致伸缩材料的驱动原理,介绍了超磁致伸缩微位移驱动系统的组成及工作原理,并对该系统的伸长量、微位移精度等性能指标进行了实验研究.

基于线阵CCD的微位移测量系统设计

作者: 郭荣礼 胡小英 胡加兴 刘宝元 来源:机电产品开发与创新 日期: 2023-02-21 人气:4
基于线阵CCD的微位移测量系统设计
提出了一种新的微位移测量的方法,该方法采用多次反射光学放大法对微小位移进行放大,用线阵CCD实现对物体位移前后光斑位置的采集,通过计算机将数据处理即可得到微小位移量。理论分析表明,该方案的测量精度可以达到2.8nm。
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