为了解决光纤端面透明反射膜反射率的精确测量问题,利用镀有反射膜的待测光纤端面,构成法布里-珀罗(F-P)干涉仪,根据其透射光谱的自由谱宽和干涉峰的半宽值,计算出膜系反射率,避免了光源波动对测量结果的影响.在用反射率为92.0～98.6 %的膜系所进行的实验中,测量误差小于0.09 %.分析了误差来源.

在北京同步辐射装置上，利用3W1B柬线得到了21°-B4C／Si，21°-B4C／Mo，10°-Cr／Ti，15°-B4C/w，10°-B4C／W以及6．86°-B4C／w等多层镜在50～1500eV能段上的反射率标定曲线．分析了标定结果的不确定度，计算得到多层镜的积分衍射效率，并修正了标定结果．

利用自准直分划板返回像光强随被测件反射率变化的特性，在自准直仪的基础上增添相应光电接收器件，以已知反射率的平面镜作标准，进行比较测量，实现光线垂直入、反射时全通光口径的反射率测量，以适应相应的使用状态和不同的被测件。

在光学器件中,由于器件(如透镜、棱镜)表面的反射作用而使光能损失,为了减少光学器件表面的反射损失,常在器件表面镀上一层透明介质薄膜(称为增透膜),增透膜的效果与介质薄膜的折射率、厚度等相联系.本文以光波的电磁理论为基础,讨论了光波入射介质薄膜的反射,推导出了反射率公式,并进行了讨论.结果表明:当介质薄膜的厚度d=λ0/4n2(2k+1)时,反射率有最小值Rmin=(n1n3-n2 2/n1n3+n2 2)(k=0,1,2,…,n1,n2,n3分别为空气、介质薄膜、光学透镜的折射率,λ0为光波在真空中的波长),而当介质薄膜的折射率n2=√n1n3时,反射率R=0,基本上无反射.

颜色测量中,常常采用分光光谱法实现对反射物体和透射物体准确的色测量.研制的分光测色仪运用了先进的光电传感技术(光电二极管阵列),具有测试速度快,数据处理方便,准确度较高等优点,直观明了的反射率曲线和透射率曲线给使用者带来了极大的方便.

研制了一种用于光学器件光谱透过率反射率实时测量的自动化光谱检测系统,整个系统实现了对光学器件进行透过率、反射率的在线测量,同时还可对光源进行光功率、色度等的自动检测工作.围绕该检测系统的研究背景、硬件组成、软件实现和应用前景展开了全面讨论.该系统的单次测量周期小于0.3s,可测量的光谱范围为200nm～1100nm,测量精度可达0.5%,采样间隔实时可调.

地面模拟研究了低能质子和电子对铝膜反射镜光学性能的影响。结果表明，低能质子辐照后，在200～800nm波长范围内铝膜反射镜反射率随辐照剂量增加而下降。质子辐照能量越低射程越短，则反射镜表面膜层中质子浓度越大损伤也更为明显。电子辐照射程较深，辐照作用对铝膜反射镜光学性能影响很小。

建立了一种反射式近场光学显微镜中样品近场光分布特性的模型,应用矢量衍射理论,得到了系统的场方程.在弱波动条件下,采用微扰法对场方程进行了求解,能方便地得到样品表面的各阶近场光反射和透射模复振幅表达式.计算结果表明,一级场分布要比零级场小一个量级,各阶近场信号的强弱完全由面形函数的傅里叶变换决定.通过与零级结果的比较,证明了计算结果的正确性.提供了一种计算样品表面近场分布简便方法,对反射式近场光学显微镜中调制检测技术具有指导意义.

为实现在高功率激光装置中对平面反射镜反射率的高精度测量，提出了将双光束分光光度法与VW测量法相结合，利用扩束后的测量光束测量被测元件的反射率。推导了计算公式，搭建了测量光束口径为50mm的检测系统，通过对标准吸收玻璃吸收值的测试验证了系统对光束能量测试的准确性。利用该系统对高功率激光装置使用的反射镜的反射率进行了测量，并将其测量结果与用lambda900分光光度计测量的结果进行了比对。结果表明：该方法的测量精度优于0．1％。

介绍了一个设计性实验-利用反射式光强位移传感器工作特性曲线上升沿的线性区测量纸张厚度.