基于非线性最小二乘法的条纹相机标定数据处理方法
使用基于非线性最小二乘法的方法处理扫速标定数据,获得了条纹相机的全屏扫速数据,消除了扫速非线性和空间畸变对测量结果的影响。该方法的不确定度约为0.04%,远小于条纹相机的系统误差。利用该方法得到了各个像素对应的扫速,其不确定度约为1.5%,显著减小了条纹相机测量结果的误差。
皮秒条纹相机的标定
介绍了一种通过迈克耳孙干涉仪,产生已知延迟时间间隔的双脉冲光作为校正用的基准时间间隔,利用条纹相机对超短激光脉冲进行精确测量的方法。
菁染料增感溴化银体系时间分辨荧光动力学研究
利用皮秒时间分辨条纹相机技术检测了3种不同染料在立方体和T-颗粒溴化银上吸附后形成聚集体的荧光光谱,分析了不同染料在不同浓度下对染料聚集体到溴化银导带的超快电子转移过程的影响,进而分析其对增感效率的影响关系,并探讨了增感过程的微观机理.实验结果表明,荧光衰减的动力学曲线与双指数函数拟合得相当好,存在一快一慢衰减成分,快衰减成分占拟合较大比例,认为其源于与荧光衰减相竞争的从激发态染料聚集体到AgBr导带的电子转移.光致电子转移的速率及增感效率随着染料相对浓度的变化而改变,不同染料增感的乳剂,其变化趋势不同.
基于图像处理的条纹相机扫描非线性修正
为了使条纹相机输出图像达到更高的测量准确度,提出一种基于图像处理的扫描非线性修正算法.该算法根据给出的标称扫描速度拟合出扫描速度曲线,求出每道的扫描速度,取其算术平均值作为一个标准,根据每道的扫描速度与该标准的大小关系来修正像素的位置和亮度.实验结果表明,可以将测量非线性由原来的8%减小到2%以下.
条纹相机扫描电路特性研究
阐述了条纹相机扫描线路的工作原理及主要性能指标,分析了影响条纹相机扫描线路性能的主要因素。利用Nd:YAG锁模激光器和标准具,测量了条纹相机扫描线路的扫描速度和扫描线性,利用半导体激光光源,测量了条纹相机扫描线路的触发晃动,得到了很好的实验结果。
多量程X射线条纹相机研制
为满足惯性约束聚变(inertial confinement fusion,ICF)等离子体诊断的需求,研制多档位X射线条纹相机.该相机工作面积为25 mm×2 mm,8个工作量程,扫描速度可在16.11~0.11 mm/ns范围内变化,符合技术指标要求.搭建基于波长为266 nm紫外激光器的X射线条纹相机联调实验系统,测试得到相机时间分辨优于45 ps,动态范围达到127,7个扫描速度非线性优于3%.
用光学记录速度干涉仪测量自由面速度
建立了一套光学记录速度干涉仪系统(ORVIS),用于测量强激光产生的冲击波状态方程中的自由面速度。该光学记录速度干涉仪系统的时间分辨率为179p8,可以测量自由面速度随时间变化的整个过程。在天光KrF高功率准分子激光装置上进行激光打靶实验,激光波长248.4nm,脉冲宽度25ns,最大输出能量158J。在激光功率密度为6.24×10^11Wcm^-2的条件下,测得厚20μm铁膜的自由面速度可达3.86km/s在激光功率密度为7.28×10^11Wcm^-2条件下,100μm铝膜(靶前有100μm的CH膜作为烧蚀层)的自由面速度可以达到2.87km/s。
大动态范围长狭缝条纹相机系统
为了满足ICF实验等离子体诊断需要,研制了一种大动态范围长狭缝软X射线条纹相机系统。该系统在保证30mm的长狭缝的情况下,通过设计一种短聚焦区高压电子光学系统大大缩短电子的渡越时间、提高阳极工作电压至16.5kV、弃用MCP内增强器、采用光纤面板耦合和使用制冷CCD等一系列措施,达到改善扫描变像管条纹相机动态范围的目的,同时保证具有较高的时间分辨力。动态测试表明,该系统动态空间分辨力为15lp/mm,时间分辨力优于31ps,动态范围大于922。
一种条纹变像管静态电子光学聚焦特性数值模拟
对ICF实验中条纹相机的重要组件变像管的工作过程进行了介绍,建立了其内部电子光学系统模型,对其静态电子光学特性进行了数值模拟。模拟软件采用ANSYS,数值计算基于有限元数值计算方法,并利用哈密顿原理求解泛函,在控制计算精度的基础上,得出了该电子光学系统的内部静电场分布和轴上电位分布,同时对静态条件下的电子轨迹进行了模拟计算。结果显示了与理论解析结果很好的相似性,同时初步探索了电极尺寸及电压参数对成像的影响。结果表明,电压参数的改变对光电子成像的影响要更大一些。
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