傅里叶望远镜在对深空暗弱目标成像方面有着独特的优势，但传统的3光束方阵成像扫描时间过长，只能对静止目标成像。为了在几秒之内对运动目标进行高分辨率成像，已经出现了几种不同类型的多光束发射阵列配置方案。在均匀分布排列中，T形配置是目前冗余度最小的结构之一。本文以6光束T形发射配置为例，简单介绍了傅里叶望远镜成像原理，依据T形发射阵列平面与空间频率平面的对应关系，分析了空间频率对成像质量的影响，验证T形发射阵列傅里叶望远镜成像优势，并进行了计算机仿真。得到了不同信噪比条件下的重构图像，通过在相同信噪比条件下和方阵列重构图像对比，成像质量完全满足要求且缩短了成像时间。仿真结果对室内和室外实验有着一定的指导作用，同时也为更多光束及其他发射阵列配置提供了参考。

本文从光学传递函数的概念出发推导出热象仪的最小可分辨温差的表达式,并介绍了用不同空间频率的四杆目标图案来测定热象仪的最小可分辨温差的方法.

通过对针孔像的处理和分析,获得了被测系统的光学传递函数,分析了采样频率对测试精度的影响,提出了用栅条板标定频率换算尺度和针孔像采样频率的方法.对50 mm焦距平凸标准物镜的测试结果表明,系统参数的标定和输入直接影响测试精度,采用本文提出的标定方法准确可靠,可以在测试组件参数未知的情况下,获得影响空间频率换算的参数,进而准确获得被测系统的光学传递函数.

正确评价抛光后光学非球面元件表面面形的波前畸变是确保实现光学非球面元件超精密制造的关键。该文提出了结合功率谱密度法和残余误差法并考虑非球面元件表面中频误差的综合评价方法。将提出的综合评价标准应用到磁流变数控抛光过程中，进一步明确了表面残余误差与抛光工艺参数之间的关系，建立了有效消除表面残余误差的抛光工艺规范。按照这一工艺规范制造出一块抛物面光学反射镜，其面形精度达到A／30(λ=0．6328μm)，残余误差为3λ／1000。该方法可为深入开展高精度磁流变抛光技术研究提供参考。

在非银盐感光材料的研究中，对于重氮感光胶片解象力的测定是一个课题.重氮感光胶片以分子成象，具有很高的解象力。但投影解象力计不能精确测定高解象力的感光材料.近来虽有介绍解象力全息法测定计法，但该方法由于存在技术上难以做到之点，所以也只能作近似估计解象力之用.我们认为，可以利用激光制作的全息光栅间接测定感光材料的解象力。

光学元件加工质量的检测和评价工作是保证整个光学系统安全、正常运行的关键。在总结非球面常用检验指标优、缺点的基础上，讨论了测量大口径非球面的波前功率谱密度时的系统组成、工作原理和软件设计的总体思路。为了减少系统误差的影响，求解波前功率谱密度时，通过引入系统传递函数校正测量值来实现。使用大口径相位干涉仪作为波前检测仪器，证实波前功率谱密度能定量给出波前畸变的空间频率分布，并用于作为大口径光学元件质量的评价标准。给出一个测试口径为64mm×64mm光学元件测试结果，有效频率为0．03mm^-1-3．87mm^-1，rms为0．0064λ。

荧光屏位于扫描电子显微镜的取样室，一条不足2m宽的线条被扫描电子显微镜的果焦电子束激发，只朝着线条方向偏转。荧光屏的结构将线条质量降低，用特制的光学系统把降低了质量的线条的图象从扫描电子显微镜输送到调制传递函数分析仪。