同轴度一般分为孔的同轴度和轴的同轴度。对于大尺寸机械产品的孔的同轴度检测，实践中都是采用光学方法，使用三脚定心架确定孔的中心，用测微准直望远镜读取孔中心相对基准轴线的偏差。但是对于轴或直径大于700mm的孔的同轴度的检测，目前尚无准确、可靠的方法。三脚定心架只能用于直径在228～528mm之间的孔的定位，用加长接杆的办法试图扩大定心架的适用范围，经实践证明这种方法局限性很大。因为，接杆长到一定程度后刚性变差，根本无法保证定心架的定心精度。

电子显微技术越来越广泛地应用到科学的各个领域。对电子显微图象进行分析处理,不但可以深入探求样品的真实细微结构,得到更接近实际的图象,还能从图象得出数字资料便于研究工作的定量分析。我们利用现有设备,在这方面作了点滴工作,使光学方法处理显微图象简单易行,能取得一定效果。图1为轮状病毒用旋转积分处理后的结果,显露出病毒内部有结构,然而是否是真实结构还有待讨论。用电子计算机进行处理得到的结果比较可靠,专用计算机例如(Q—900)图象仪现有程序可以完成改变图象

光学测角法是高精度动态角度测量的一种有效的解决途径。对目前发展较快的几种角度测量的光学方法--圆光栅测角法、光学内反射小角度测量法、激光干涉测角法和环形激光测角法进行了详细的介绍，并且分别给出了每种方法的测量原理和发展形状，比较了各种方法的优缺点，给出了每种方法的应用场合和发展前景。

<正> 前言 晶体的定向是由与晶粒的形状和晶格所确定的晶向有关的晶体的各几何方向间的联系来确定的。硅晶体定向测量的方法很多,但相比之下,光学方法更具有特点。它使用起来简单、定向准确、可靠,能够处理任何半导体应用中的定向测量问题。

针对自动增益控制AGC引起固态摄像器件感光灵敏度大幅度变动的缺陷,引入稳定的强光束单独照射CCD或CMOS局部区域上的像素,由视频信号延时、平均产生的AGC可抑制器件自身灵敏度.选择适度的预照射面积以产生足够的预置光通量,可使被测对象引起器件上的总光通量变化减小,对应的AGC输出变化幅度变小,并钝化灵敏度.模拟计算以5倍测量平均光强照射抑制区、摄像器件的光通量变化中值为基准的相对变化范围抑制30%像素为81%～119%;抑制50%像素后为91%～109%.强光抑制少量感光元能产生超过多数感光元测量时的光通量.用单板CCD、CMOS测量细光束,光学抑制法可防止出现感光元下电荷溢出、图像亮区饱和及面积扩大等不良现象,提高被测物体边缘的清晰度和亮度信号的稳定性.