参考值是多实验室计量标准或测量仪表量值比对的关键结果。由于比对的多样性和复杂性,参考值的确定一直是比对研究的重点之一。从比对量值的溯源性出发,分析了比对量值的独立性,提出内部复现量值、独立溯源量值和非独立溯源量值的概念;基于不确定度和相关性分析,得出确定计量量值比对最佳估计值——比对参考值的准则;提出不同独立量值来源情况下确定参考值的通用方法。

对UVA探测器照度响应度的量值复现方法进行了详细的讨论。分析比较了光源的光谱辐射照度法、探测器的绝对光谱响应度法、热释电探测器法、绝对辐射计法和与标准紫外辐射照度计比较法等5种方法的原理和测量结果。以此为理论基础，中国计量科学研究院（NIM）参加了由亚太计量规划组织（APMP）举办的国际上首次“UVA探测器的照度响应度国际比对APMPPR-S1”。比对结果表明：在7个参加实验室中，NIM的量值与国际参考值最为接近，窄波段UV365照度响应度和宽波段UVA照度响应度与国际参考值的偏离量分别为-0．57％（k=2）和-0．53％（k=2）。在特定条件下，宽波段紫外辐射度的量值复现不确定度也由原来的10％（k=1）改善为2．0％（k=1）。

低温辐射计腔体吸收比是安装前由专用装置在室温下测定的,实验表明此吸收比随着腔体环境温度的下降而增加.

论述了用横向谱移法测量单模光纤模场直径的测量原理．测量装置和测量结果，该方法是国际电信电报咨询委员会（ＣＣＩＴＴ）所推荐的单模光纤模场直径测量方法之一。本套测量装置具有位移测量准确，系统稳定度高和自动化高等优点，地一系列光纤样品所作的与连续变戏法（远场法）比对表明，两者符合在３％以内。

阐述了角偏差的定义和测量原理，然后用照片给出了测量仪的全貌。整套测量仪用微机进行二维转动架的规定交替转动，并记录信号接收器传来的信号，待测量结束时打印出结果。对测量光束的设计要点和CCD面阵探测器的选择原则进行了说明，最后定性地分析了影响测量结果的10项误差源，按照误差理论给出了绝对合成不确定度。

介绍了转动架驱动头盔面窗进行多个光学性能参数测量时,能使固定的测量光束在透射头盔面窗上的任何点通过其两个焦点,实现正确的测关键在于这种双焦点曲面的几何特性和转动架的独特设计.

本文叙述了200~400nm波段光电探测器光谱响应度的测量装置原理、测量系统及不确定度。采用紫外光谱强度大的氙灯作为光源,采用紫外分光效率高的单色仪进行分光,腔型热释电探测器与标准硅光电探测器进行相对光谱响应比较得到标准硅光电探测器相对光谱响应度。绝对值标定则是利用低温辐射计对无窗紫敏硅光电探测器进行测量后再传递到标准硅光电探测器,从而最终测量出标准硅光电探测器在紫外波段的绝对光谱响应度。

对一种新型电校准辐射计的面响应不均匀性、线性和绝对响应度等特性进行了研究。在０．７～７５０μＷ范围内测得其线性度优于０．５％。面响应不均匀性的测量是利用小的激光光斑在探测器的灵敏面进行二维扫描。在探测器的主要灵敏面内，相对响应度与到探测器中心的距离表现为二次曲面关系。本文对不同光斑大小、光束横截面上不同功率分布以及光斑入射到探测器表面的不同位置引起的测量误差进行了分析和研究。给出了是否需要修正的判据和需要修正时所应采用的修正方法，这种方法也适用于其它类型的电校准辐射计，利用该修正方法可以显著降低测量不确定度。实验考查了面响应不均匀性的影响，实验结果证明了修正方法的正确性。

介绍了头盔面窗棱镜度的测量原理和要点.略述了测量的重要步骤,最后列出了不确定度评估表.

介绍了常用的腔型和平面型两种热电型光辐射探测器时间响应特性的测量方法和测量结果。测量结果表明不论是腔型还是平面型光辐射探测器,其时间响应特性都不是理论预言的简单指数衰减函数,而是包含两个指数衰减函数的组合函数;探测器达到平衡的时间是入射光功率的函数,两种探测器的平衡时间都可能很长。所以,如何选取测量读数前等待平衡时间对测量结果有重要影响。对该项因素的影响进行了分析,并提出了解决办法。