研制了一种新型的双通道椭圆弯晶谱仪,椭圆的离心率和焦距分别为0.9586和1350mm.利用晶体作色散元件,布拉格角为30°～67.5°,谱线探测角为55.4°～134°.在两个通道上用CCD和条纹相机同时测量Χ射线的空间和时间分辨光谱.在'神光Ⅱ'激光装置上进行了首次摄谱实实验,实验结果表明该谱仪的光谱分辨力为0.002nm.

研制大面积微通道板（microchannel plate，MCP）选通X射线皮秒分幅相机．MCP外径为106mm．微带阴极宽度为12mm．测量微带阴极的时域反射曲线，得到微带阴极的特性阻抗约为11Ω，相机的时间记录长度约3ns．对分幅相机进行联调实验，测得其时间分辨率为62ps，空间分辨率为18．87lp／mm．

为了诊断0.2～2 nm的激光等离子体X射线,研制了一种新型的基于时间分辨和空间分辨的聚焦型椭圆弯晶谱仪,采用两个完全相同且对称分布的通道可以同时获得谱线的空间和时间分辨率.给出了弯晶谱仪的设计参数,采用了新颖的瞄准对中技术,并对光源偏离椭圆轴线造成的误差进行了分析.在'神光Ⅱ'靶室上进行打靶实验对该谱仪进行标定,利用X射线CCD相机成功地获取了谱线的图像,实验结果表明实测谱线波长与理论值吻合.

X射线光谱议是一种强有力的激光等离子体诊断工具.为了获取激光等离子体发射的X射线中所包含大量信息,基于椭圆几何原理设计制造了X射线弯晶谱议.在上海神光Ⅱ号装置上利用LiF弯曲晶体分析器,用150J激光能量对Ti靶进行了试验.通过X射线CCD记录获取的谱线,结果表明这种聚焦型晶体分析器的灵敏度有了明显的提高.

双通道椭圆弯晶谱仪（以下简称TCECS）是激光惯性约束核聚变（ICF）研究中非常重要的诊断仪器，在一个通道上用X光胶处或X－CCD作空间分辨测量，在另一个通道上用X光条纹相机作时间分辨测量，从而同时获得X射线的空间和时间特性。TCECS传递效率的高低将影响摄谱效果，而TCECS的传递效率取决于柱面镜的反射率、晶体的积分衍射率、滤光膜的透射率和光谱相对孔径，本文从理论上分析了TCECS传递效率的四种影响因素与波长的关系，并用Matlab6.1软件进行了数值计算，表明TCECS的传递效率随X射线波长增大而减小，这对今后TCECS的结构设计具有重要的指导作用。

提出了一种基于圆柱面石英透射弯晶的晶体谱仪，主要用于诊断10～60keV范围的硬X射线光谱。石英弯晶的曲率半径为112mm．晶格常数为0．4256nm。实验利用Mo靶X射线管作为点光源，晶体与光源距离700mm，采用成像板作为记录介质．获得了清晰的光谱图像。Mo的两条特征谱线以光轴为中心线对称分布，谱线的位置与理论计算符合得很好。误差分析表明，实际测量值与理论值的偏差主要来源于瞄准精度。

为得到一种对可见光不响应而在辐射探测范围内平响应的X射线探测器,研究了一种化学气相沉积金刚石X射线探测技术,以作为硅与真空X射线二极管探测技术的补充。首先对化学气相沉积金刚石进行品质检测,利用两种规格的金刚石集成制作出X射线探测器,之后在8 ps激光器装置上开展了探测器的时间响应等性能研究。实验结果表明：探测器系统前沿响应时间可达60 ps,半高全宽可达120 ps,与真空X射线二极管探测系统时间特性一致,可以满足ICF实验对X射线辐射测量的应用。