EMI测量的不确定度是EMI测量中急待解决的问题之一。本文介绍了EMI测量中不确定度的含义、计算公式以及影响不确定度的因素,给出了CISPR测量的不确定度UCISPR ,并以此为基础,提供了一种判定与标准限值“符合性/不符合性”的方法。

在很多情况下，用户会要求实验室把所得的测量或试验结果与某特定规范加以比较，作出评价并提供相应的报告。下面就如何进行评价和提出这类报告介绍一些典型的做法。

为降低某线阵CCD相机因屡次调试而被损坏的风险,对相机的特性和时序进行了分析,设计了一种基于现场可编程门阵列（FPGA）的CCD相机模拟器。整个系统以FPGA作为核心器件,在FPGA内部开辟一片ROM,里面存放一幅标准图像的灰度值,在像素时钟的下降沿输出灰度值,并对像素时钟进行计数,产生外加行同步信号和行有效信号。仿真结果显示,此线阵CCD相机模拟器模拟过程符合实际相机的输出时序要求。模拟器的设计缩短了工程上的调试时间,为后期的采集和存储等处理提供了保证。

根据数码像机的工作原理和显示驱动电路的结构。应用硬件设计出数码像机显示驱动电路。实现数据驱动和图像的清晰显示，达到数码像机的技术要求。

根据逆变系统的构成原理。设计出一种适合数码相机电源部分的DC／DC电路，并详细分析了所设计电路的工作原理和特性。

作为液晶显示主要部分之一的电源电路,直接控制提供给液晶驱动芯片的偏压.电源电路提供的液晶偏置电压在液晶显示对比度和显示灰度的控制中起着重要的作用.S-8330/8331系列芯片是日本SEIKO公司生产的用于提供液晶偏压的电源芯片.其内部有8位移位寄存器,用数字方式调整输出电压.S-8330/8331系列芯片的小体积、低功耗、高集成度等特点使其适用于电池供电的便携式设备中.

为提高三维显示器的性能，提出了一种动态单像素液晶透镜方法。通过对液晶透镜进行结构建模仿真并根据三维显示技术的光学原理，对像素光源发散角以及液晶内部折射率分布对三维显示的性能影响进行了分析。通过实验结果的对比，发现光源的发散角度对单像素立体显示器的性能有很大影响。通过优化相关参数，可以使自由立体显示系统实现高分辨率和低串扰，改善自由立体显示的性能。

为确保电磁屏蔽机柜能够在强电磁脉冲环境下正常工作,结合机柜电磁兼容性能参数要求及结构,通过HFSS平台建立了机柜密封条结构的电磁仿真模型,对比屏蔽效能实际测试方法将仿真模型进行简化及优化设计,并且对电磁屏蔽机柜密封条结构对各类缺陷的工艺适应性进行了仿真分析。分析了密封条电导率以及螺栓松动、机柜刚度不足、密封胶条长度误差三种工艺缺陷因素对机柜屏蔽效能的影响。根据仿真分析结果,量化了密封条工艺安装过程中各类参数应控制的范围,确立了密封条安装规范,解决了屏蔽材料屏蔽效能仿真测试的难题,成功将GJB 8820-2015中屏蔽效能测试方法仿真化。