本文介绍了基于LH628的光谱分析仪波长定位系统，详细阐述了其原理及具体实现。

光栅应用技术的新进展北京云志电气公司管钧以光栅作为传感元件，将线位移或角位移转换为相应变化的电子分度表征是光栅应用技术的主要特点。随着光栅制造工艺水平的提高，特别是近年来光栅信号的数显处理技术的飞速发展，使得光栅测量技术在量程、精度、系统稳定性、性能...

部分凹透镜的凹面由于设计和工艺的要求,需要磨出一个垂直于光轴的平面,往往该平面与通光口径重合,一般精度要求不严,所以传统的磨边机没有在线检测通光口径的功能。而对于通光口径要求严格的镜片,在线检测非常必要。为解决这一实际问题研发了专用检测仪器。先对凹透镜通光口径上边缘成像,再微调手轮,使得分化板刻度线对准上边缘,把此点定为零点,然后调动手轮,移动工作台,使得分化板与通光口径下边缘对齐,其经过的距离就是凹透镜的通光口径。这个距离通过固定在移动工作台上的光栅进行测量,从而实现了光栅精密测量和光学成像的巧妙结合,创新性的实现了小视场对大距离的测量。

无触点式光栅型液位迹送器利用光电变换原理，将浮子液位计的机械转角以光脉冲的形式进行光／电变送，它与８０Ｃ３１单片机为核心的信号变换显示仪配合使用，可实现对液位的高精度监测和控制。

设计了一种静电力反馈控制的三明治式微机械干涉加速度计,加速度计由敏感芯片、半导体激光器、光电二极管以及相应的驱动电路和反馈控制电路组成.敏感芯片为玻璃-硅-玻璃3层结构,通过硅-玻璃键合体硅工艺制成.硅质量块由铝梁支撑,底部玻璃基片上有金属光栅和电极,通过在质量块和底部玻璃基片上的电极之间施加电压可以调节质量块与玻璃基片间的间隙.入射激光照射到敏感芯片上的光栅上,产生衍射光束,其光强随质量块与下玻璃的间距而变化.反馈控制电路通过测量衍射光强的变化来改变质量块与底电极之间的电压,使得质量块与底部玻璃基片的距离保持为入射光波长1/8的奇数倍,从而提高输出线性度,改善灵敏度,增大量程.

基于大规模集成电路加工技术介绍具有任意图形编码的二值位相光栅的制作 过程。其中包括振幅模母版的制作和掩模图形的转移两部位。针对制作的２５×２５扇出的Ｄａｍｍａｎｎ光栅，给出了实测结果。

设计出一种基于棱镜-光栅-棱镜组合分光方式的显微高光谱成像实验系统.系统根据推帚式成像光谱仪的原理进行设计,采用棱镜-光栅-棱镜组合元件在后光学系统进行光谱分光,利用高精度载物台自动装置驱动样品进行推扫成像,选用PCI总线作为数据采集的微机接口.整个系统由显微镜、分光计、面阵CCD相机、载物台自动装置以及数据采集与控制模块等几部分组成.系统的光谱范围从400 nm到800 nm,120个波段,光谱分辨率优于5 nm,空间分辨率大约1 μm.该系统具有直视性、光谱分辨率高、结构紧凑、成本低等优点;不仅能够提供微小物体在可见光范围的单波段显微图像,而且能够获得图像中任一像素的光谱曲线,实现了光谱技术和显微成像技术的结合,成功的将成像光谱技术应用到显微领域,可广泛应用于临床医学、生物学、材料学、微电子学等学科领域.

使用多普勒理论分析了一种典型的具有纳米级位移分辨率的双光栅测量系统.在以往的文献中,只是简单的列出光栅系统的位移测量公式,对系统的工作原理分析避而不谈.文中首先给出了系统的光路结构,分析了光栅的衍射序列,然后对光束入射和出射光栅的多普勒效应进行了数学建模,得到了最终的位移测量值与光学莫尔条纹之间的关系.最后分析了参考光栅的作用,并给出了这种系统的特点.

从光栅副形成莫尔条纹的特性方程出发，分析了对电子经纬仪的光栅副偏心调整的四种方法：莫尔条纹调整法、漏缝调整法、基圆调整法和基于李萨茹圆的电调整法。根据实际情况，确定了对光栅偏心调整采用基于CCD图像系统的基圆调整法进行粗调，和基于虚拟数字示波器的精调法相结合的方案，采用曲线拟合和相关法，计算出光栅偏心的大小与方位，并给出了光栅偏心与轴晃的关系，介绍了GPT一1型光栅偏心调整检验仪的组成和功能，最后给出了仪器的调整检验结果。实践表明，GPT一1型光栅偏心调整检验仪为电子经纬仪的装配、光栅偏心调整和偏心检验起到了重要的指导作用，大大地提高了生产效率。

提出了数字环栅莫尔条纹扫描方法。该方法不是用实物环光栅与无衍射光的光斑重叠产生环形莫尔条纹。而是先用CCD摄像机将光斑摄入计算机，再与一基本同心的数字环光栅重叠产生环形莫尔条纹。改变该数字光栅的相位，可实现莫尔条纹扫描，用多幅扫描图像可算出光斑图像整体中心。由于利用了整幅图像的数据，该法实现了含噪环栅状光斑图像的亚像素级灵敏度定中心。统计模拟实验证明，它具有良好的抗干扰能力。并介绍了该方法在空间直线度测量方面的应用实验。