Nd：YVO4是一种重要的激光晶体，广泛的应用到各种激光器中，本论文着重阐述不同的偏振光对应Nd：YVO4的受激发射截面不同从而导致该谱线的增益不同，并从实验上给出了定量的结果，实验表明对于a—cut的Nd：YVO4当偏振态由仃到盯变化时，受激截面由21．5×10^19cm^2变化到14．3×10^19cm^2，对应的激光输出功率也由4．1W变化到1．7W。利用此原理提出了一种全新的弱增益谱线与强增益谱线的和频方法，并利用此方法实现了593．5nm激光的运转。

在理论和实验上研究了完全偏振光的不同偏振态和光的偏振度对Hanbury Brown—Twiss实验二阶关联函数g^（2）的影响。实验中用线偏振光通过1／4波片获得椭圆偏振光，并通过旋转波片实现对完全偏振光偏振态的改变；用两束振动方向相互垂直，传播方向相同且相位差随机的线偏振光合成部分偏振光，并通过调节一束光的光强实现对合成光偏振度的改变。结果表明：对于完全偏振光，其偏振态的改变对g^（2）没有影响；对于不同偏振度P的光源，g^（2）为P的二次函数。特殊地，自然光情况下P=0，g^（2）的理论最大值为1．5；完全偏振光情况下P=1，gg^（2）的理论最大值为2。理论与实验符合得较好。

简述了日立１８０系列塞曼原子吸收仪的洛匈棱镜的结构，起偏原理，偏振特性，以及常见故障。

通过对双频激光干涉仪的原理、结构、双频产生机理进行分析，阐述激光干涉仪在光刻设备中的实际应用，探讨激光干涉仪技术。

利用偏振技术，设计出微观平面物体的三维放大成像系统，解决了特殊物体的三维放大成像问题。该系统主要包括显微成像和照明系统两个部分，系统放大倍数为100，采用LED作为照明系统光源，使物体在经过偏振器件和光学系统后的亮度满足人眼的要求。设计的显微系统的前工作距离为56mm，满足系统的大于50mm的设计要求。显微成像系统成像质量较高，空间分辨率达到0．004mm，照明系统的像面平均照度为600lx。

设计了一种新型的分光光度计来测量光学薄膜在任意角度下的温度漂移特性，包括其光学结构、机械结构和数据采集部分．通过偏振器自转实现了自动偏振特性校准功能，采用积分球旋转技术实现了任意角度反射率的测量，同时可以用于薄膜温度漂移特性的测试．分析了光源、环境光、样品厚度等引起的误差以及相应的解决方法．结果表明，此分光光度计可以用于高精度的薄膜特性测量．

介绍了一种用于硅基液晶光学系统的薄膜型偏振分束棱镜的研制，其中膜系由三种膜料56层膜层构成，文中介绍了设计结果及其制作工艺，并对其测试系统进行了简要说明，测试了制作样品，对测试结果和设计值进行简要分析，结果表明该偏振分束棱镜实现了大角度、宽波段、高消光比的要求。

发射率是铸坯表面温度测量精度的一个重要影响因素，在连铸表面测温现场应用过程中氧化层又是影响发射率的主要因素，根据波传播理论建立了铸坯表面辐射的多层模型，研究铸坯氧化层厚度变化对其发射率的影响．推导了铸坯表面偏振角发射率的递推公式，根据文献资料确定各层物理参数，通过计算结果发现，铸坯在水平偏振方向上的角发射率在60°～80°之间明显增强；当氧化层增厚到一定程度后，发射率逐渐稳定．这两个结论为设计现场表面测温装置提供重要的理论依据．

采用三维时域有限差分法（FDTD）,模拟计算了光子扫描隧道显微镜（PSTM）系统中的介质和银质金属样品在不同偏振模式光源下的近场强度分布.使用介质小样品检验探针性能,在探针不同位置计算得到了相似的近场强度分布图,说明编写的程序是可信的.给出了等高扫描时p偏振和s偏振条件下,“PSTM”字样介质样品和银质金属样品上方5nm处的近场强度分布图,结果显示：对介质样品,p偏振波能较好的反映样品的形貌,这是由入射电场的方向决定的;银质金属有表面增强作用,对不同偏振波均能在某种程度上反映样品的形貌,仍有待近一步的研究.

介绍了在激光偏振成像研究中,激光在大气传输中的散射光偏振特性的基本表示方法,根据Rayleigh散射和Mie散射理论,通过传输Mueller矩阵求解,分别对大气分子散射和气溶胶散射的单次偏振特性建立理论模型,并通过数值计算模拟的方法研究大气分子和气溶胶对自然光、水平线偏振光和45°线偏振光的偏振特性影响,最后介绍了用矢量传输方程来解决大气散射光多次散射偏振问题.