描述了相干检测偏振共焦扫描显微成像技术的原理、方法和实验结果，给出了成像条件，并用这种技术分析测试了掺杂半导体纳米材料ＣｕＣ１和ＴｉＯ２聚乙烯薄膜的局域双折射性质和偏振特性。

介绍了作者在测量单纵模激光器线宽参数的过程中，研制的马赫-曾德尔光纤干涉仪，并给出了实验结果。