<正> 虽然理论上很多单色仪在软X射线波段的分辨本领E/ΔE可以达到10~4量级,但实际上只有几种单色仪能达到这么高的分辨率水平,它们是球面光栅单色仪、SX—700型单色仪及这两种单色仪的改进型。意大利的Trieste同步辐射光源上的精密电子光化学分析项目将用这类高分辨率的谱仪进行光电子谱实验。在这条光束线上采用了改进型SX—700单色仪原理,其结构由Jark提出,它能与波荡器很好地匹配,并在100eV～2000eV范围内做最佳调节。这条束线的所有光学元件的安装于1993年底完成,并在次年一月

基于楔条形位置灵敏阳极的光子计数成像探测器能够记录入射的单光子或带电粒子位置信息,因而能够在极低的照明条件下实现目标的二维成像。本文研制了一套WSA光子计数成像探测器样机,介绍了它的设计结构及工作原理;分析了这类探测器的图像畸变产生的原因,提出了校正图像畸变的方法,并得到了无畸变的图像。以美国空军标准分辨率检测板（USAF1951）为目标进行了分辨率检测,采集的检测图像显示人的裸眼能分辨出检测板的第2组第6单元条纹。最后,为了消除人眼观测的主观性,通过计算探测器对该单元条纹的成像调制度来确保检测结果的准确性。计算结果显示探测器对该单元条纹的水平、垂直方向成像调制度分别为57%和37%。这一结果表明研制的探测器完全能够分辨该单元条纹,对应的分辨率为7.13lp/mm,即探测器空间分辨率达到了0.14mm。

极紫外望远镜工作波段与可见光波段相差近两个数量级，其工作波段的衍射极限很低，达到30．036″，使该波段望远镜角分辨率的检测很困难。本文介绍了一种极紫外望远镜角分辨率的评价方法。该方法利用通用可见光波段面形检测仪器，检测出极紫外望远镜光学元件面形误差和装调误差，将检测到的与波长无关的Zernike系数代入光学设计程序，计算出极紫外望远镜工作波段的点扩散函数和环绕能分布，进而计算出望远镜在极紫外波段的角分辨率。实验结果表明，极紫外望远镜的角分辨率可以达到0．18″。该方法是一种快捷、有效的极紫外波段成像仪器的评价方法。

提出了一种亚角秒精度的转角测量方法。利用ZYGO数字干涉仪测量压电陶瓷转动平台驱动待测标准平面镜偏转前后镜子面形精度的PV（Peak Valley）值，二者的差值除以待测标准平面镜的直径，其结果近似等于压电陶瓷转动平台转动的角度。通过测量与误差分析，验证了压电陶瓷转动平台的转角精度小于1μrad（0．2^n），而测量的总误差和压电陶瓷转动平台移动的角度大小有关，移动距离越大，产生的误差越大，但其相对误差小于1％。本测量方法证明压电陶瓷精密转动平台转角精度达到了极紫外太阳望远镜（EUT）0.8＂的角分辨率的要求。

多层膜反射镜是30．4nm正入射望远镜的主要反射元件，但它在紫外、可见和近红外光波段也具有很高的反射率，需要滤光片来消除这些长波辐射，而滤光片材料和膜层厚度对滤光片的性能起重要作用。根据原子散射因子，理论计算出几种材料波长和线性吸收系数之间的关系，确认铝足30．4nm波段滤光片的最好材料。在考虑透过率和膜强度的基础上，确定了滤光片的膜层厚度。改进了现有的由Mcpherson247掠入射软X射线-真空紫外单色仪和气体空心阴极光源组成的光谱测量装置，使其适合于透过率的测昔，其波长扫描精度为±0．017～±0．097nm，对所制备的铝滤光片进行25．6～1000nm波段的透过率测量，测量结果显示其在30．4nm处的透过率为58．85％。为了比较全面地反映该种滤光片的透过率情况，又测量了它在紫外、可见和近红外波段的透过率，其值接近零，...

掠出射X射线荧光分析技术是分析薄膜特性和介质表面的一种重要工具.文中简述了利用掠出射X射线荧光技术分析薄膜厚度的原理和方法,介绍了一种在实验室里由激发光源、样品承载系统、色散系统、探测系统和数据收集及处理系统构成的掠出射X射线荧光光谱仪系统,并给出了利用55Fe放射性同位素标定该光谱仪系统的试验结果.

极紫外太阳望远镜（EUT）作为高分辨率空间成像仪器，其检测水平的高低直接影响EUT成像质量。在完成EUT的装调工作之后，对其成像质量进行了检测。具体方法是将分辨率板置于平行光管的焦点处，由可见光照明该分辨率板，透射光经平行光管后成为平行光束并充满待测EUT人瞳，再经EUT成像在CCD相机上，根据所得图像来判断待测望远镜分辨率。实验结果表明，EUT在可见光波段（λ=570nm）的分辨率为1．22″，接近此波段的衍射极限（1．20″）。根据可见光检测结果估算出EUT工作波段的分辨率可以达到0．32″，能够满足设计要求。

给出了一种新的极紫外（EUV）单色仪定标方法。通过测量标准气体He空阴极光源的30．38和58．43nm两条发射光谱和标定过的中心波长为13．90nm的Mo／Si多层膜反射镜的反射率峰值位置，对Mcpherson247型EUV单色仪进行波长定标，将所定的标准点在单色仪的运动轨迹上做了相应的标识，并用Origin软件进行处理，利用一元二次方程得出拟合曲线。对标定结果做了分析，得出了在12-60nm波段内，用激光等离子体光源软X射线反射率计测量多层膜反射镜反射峰值位置时，测量准确度为0．08nm，测量重复性为±0．04nm。测量误差主要来源是光源的不稳定性和机械转动误差。

介绍了一种不同波段的超紫外望远镜在轨指向的标定方法.此方法利用四个波段(13.0,17.1,19.5,30.4nm)的超紫外望远镜均有较高的光谱响应和能够对较强的太阳辐射光谱成像的特点,根据由不同的望远镜所获得的太阳的四个图像的变化,计算出了四个望远镜间的指向偏差.根据四个不同波段的超紫外望远镜的光学性能和太阳紫外辐射谱线的亮度优化出了具体的太阳辐射谱线,并对所选用的标定谱线的可行性进行了分析.该方法的在轨标定精度为0.1″.

为了使单色仪在极紫外一软x射线波段准确地进行波长扫描，需要对单色仪进行波长标定。单色仪的所有组件都放置在罗兰圆的圆周上，改变出射狭缝在罗兰圆上的位置，在单色仪的出射狭缝处就可以得到相应波长的单色光。通过测量标准He空心阴极光源的发射光谱，对Mcpherson247单色仪进行波长标定，并对实验结果进行了分析，得出在1～100nm波段内单色仪标定精度为±0．017nm-±0．097nm。