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轴对称静场系统聚焦特性

作者: 王丽伟 刘慎业 胡昕 曹柱荣 袁铮 肖沙里 来源:强激光与粒子束 日期: 2024-09-25 人气:6
轴对称静场系统聚焦特性
建立了不等径双圆筒电极结构的旋转轴对称静电场电子光学聚焦系统模型,利用ANSYS软件,数值模拟了电子束在其内部场中的运动情况,给出了理论计算的像面和最佳成像位置。研究了电极形状、尺寸和负载电压等因素对系统成像特性的影响。得出了各电极负载对聚焦点位置影响的量化关系。研究表明:聚焦极对系统成像的影响比加速极和阳极大;聚焦极负载电压对成像特性的影响比电极尺寸和形状大得多。

用于诊断激光等离子体X射线的椭圆弯晶谱仪

作者: 熊先才 钟先信 肖沙里 杨国洪 高洁 来源:光电工程 日期: 2024-08-14 人气:19
用于诊断激光等离子体X射线的椭圆弯晶谱仪
研制了一种新型的双通道椭圆弯晶谱仪,椭圆的离心率和焦距分别为0.9586和1350mm.利用晶体作色散元件,布拉格角为30°~67.5°,谱线探测角为55.4°~134°.在两个通道上用CCD和条纹相机同时测量Χ射线的空间和时间分辨光谱.在'神光Ⅱ'激光装置上进行了首次摄谱实实验,实验结果表明该谱仪的光谱分辨力为0.002nm.

椭圆弯晶谱仪分析器研制

作者: 施军 肖沙里 雷小明 徐东镪 张世欣 来源:仪器仪表学报 日期: 2024-08-04 人气:6
椭圆弯晶谱仪分析器研制
针对激光惯性约束核聚变辐射的X射线分析,可得到关于等离子体电子密度、温度、电荷分布等重要信息。研究的X射线弯晶谱仪分析器是用来诊断X射线光谱,进而实现对激光惯性约束核聚变的控制。探讨了椭圆弯晶谱仪理论原理,分析了积分反射率和质量吸收系数。弯晶谱仪采用LiF弯晶分析器,椭圆焦距2C为1350mm,椭圆离心率e为0.9586,晶体布拉格角范围为30°至60°。在此对LF弯晶分析器的制作工艺进行详细描述。实验结果表明,该晶体分析器对X射线的分辨率(λ/△λ)可达900以上,能够用来对激光等离子体的X射线光谱进行诊断。

喷气箍缩等离子体X射线椭圆弯晶谱仪研究

作者: 王洪建 肖沙里 施军 黄显宾 杨礼兵 蔡红春 周少彤 张思群 姜蓉蓉 来源:光子学报 日期: 2024-04-04 人气:21
喷气箍缩等离子体X射线椭圆弯晶谱仪研究
为了测量喷气箍缩等离子体X射线的空间分辨光谱,利用椭圆聚焦原理,研制了一种椭圆晶体谱仪.分别利用Si(111)、Mica(002)椭圆晶体作色散元件,离心率均为0.9480,布喇格角为30~67.5°,光谱信号采用半径为50mm的半圆形胶片接收,从等离子体源经晶体到胶片的光路长为1430mm.在“阳”加速器装置上进行摄谱验证实验,成功获取了氩喷气等离子体X射线的光谱.测量光谱波长与理论值相符,其中Si弯晶获得的光谱分辨率(λ/△λ=200~300)低于Mica弯晶获得的光谱分辨率(λ/△λ=500~700).实验结果表明,该谱仪适合于喷气箍缩等离子体X射线的光谱学研究.

线阵CCD在异形回转体轮廓尺寸测量中的应用

作者: 肖沙里 钟先信 来源:重庆大学学报(自然科学版) 日期: 2024-03-02 人气:18
线阵CCD在异形回转体轮廓尺寸测量中的应用
讨论利用线阵CCD图象测量方法。配备Z、Y二维运动工作台及绕Z轴回转数显工作台,地异形回转体三轮轮廓尺寸进行检测。用Marr边缘检测算子对CCD获得的原始灰度图像进行处理,采用最小二乘法完成曲线拟合,获得亚象元分辩率。对Φ200mm异形回转体零件进行尺寸测量,测量系统精度达到μm级,并给出了试验结果。

一种新型的椭圆弯晶谱仪及其应用

作者: 高洁 钟先信 肖沙里 熊先才 来源:重庆大学学报(自然科学版) 日期: 2024-02-29 人气:18
一种新型的椭圆弯晶谱仪及其应用
研制了一种新型的诊断0.2~2nm的激光等离子体X射线的聚焦型椭圆弯晶谱仪,根据椭圆光学自聚焦原理给出了弯晶谱仪的结构设计方案,创造性的提出了利用激光测距仪完成瞄准和测距两个功能的瞄准对中关键技术.通过在上海"神光Ⅱ"靶室上的装调及打靶实验,利用X-CCD成功的获取了谱线的图像,数据分析的结果证明实测谱线波长与理论值吻合.

氩气Z箍缩内爆等离子体温度诊断

作者: 施军 肖沙里 王洪建 黄显宾 杨礼兵 蔡红春 来源:光学精密工程 日期: 2024-02-03 人气:14
氩气Z箍缩内爆等离子体温度诊断
为了诊断z箍缩等离子体电子温度,研究了氩的双电子伴线与类氦共振线的强度比和等离子体电子温度的关系。利用椭圆弯曲晶体谱仪在“阳”加速器上探测x射线光谱,采用x射线胶片接收信号。针对谱仪获取的氩的类氦谱线及类锂伴线,计算了伴线k与共振线w的强度比以及伴线j与禁戒谱线z之和与共振线强度比,利用伴线与共振线强度比值和等离子体电子温度的关系诊断出电子温度为960~1060keV,实验结果证明谱线强度比值法是一种探测电子温度很有效的诊断方法。

一种X射线诊断用椭圆晶体分析器的研制

作者: 肖沙里 刘宇 徐智敏 钱家渝 黄睿 来源:光电工程 日期: 2023-04-22 人气:2
一种X射线诊断用椭圆晶体分析器的研制
在惯性约束聚变(ICF)中,激光等离子体产生的X射线包含了丰富的信息。为了获取这些有用的信息用于诊断电子的温度和密度,本文基于椭圆几何原理研制了布拉格散射角为30~65°区域的椭圆弯晶分析器,论述了等离子体诊断谱仪的弯晶分析器加工及其性能评价。LiF晶体被用作X射线散射元件,晶体是椭圆弯曲的粘贴在偏心率为0.9586、焦距为1350mm的不锈钢衬底上。激光功率为1.6×10^14W/cm^2,脉宽为800~900ps,并以钛作为靶材。实验结果表明,该弯晶分析器具有比平晶分析器更好的灵敏度,光谱分辨率达到500(λ/Δλ)。

一种条纹变像管静态电子光学聚焦特性数值模拟

作者: 王丽伟 刘慎业 肖沙里 胡昕 曹柱荣 袁铮 来源:强激光与粒子束 日期: 2023-01-30 人气:2
一种条纹变像管静态电子光学聚焦特性数值模拟
对ICF实验中条纹相机的重要组件变像管的工作过程进行了介绍,建立了其内部电子光学系统模型,对其静态电子光学特性进行了数值模拟。模拟软件采用ANSYS,数值计算基于有限元数值计算方法,并利用哈密顿原理求解泛函,在控制计算精度的基础上,得出了该电子光学系统的内部静电场分布和轴上电位分布,同时对静态条件下的电子轨迹进行了模拟计算。结果显示了与理论解析结果很好的相似性,同时初步探索了电极尺寸及电压参数对成像的影响。结果表明,电压参数的改变对光电子成像的影响要更大一些。

门控分幅相机增益衰减特性

作者: 袁铮 刘慎业 曹柱荣 肖沙里 黎航 张海鹰 王丽伟 来源:强激光与粒子束 日期: 2023-01-25 人气:1
门控分幅相机增益衰减特性
分析了分幅相机增益衰减的理论模型,利用Mathematica软件模拟了增益随电脉冲传输时间指数衰减的曲线图。根据增益衰减理论,设计了测量增益衰减系数的实验。实验结果表明:分幅相机的平均增益按0.0249mm^-1指数衰减,电脉冲沿微带线传输的电压幅值衰减系数平均为0.00356mm^-1.得出实验数据中单条微带上增益并不完全符合增益指数衰减规律,而是在最后一帧图的增益有所回升,分析得出这是由电脉冲在微带末端连接处的反射引起的。经多次测量,电脉冲在微带线末端的平均值反射比为24.2%。对增益衰减状况的改善提出建议:采用良导体制作传输线,选取介质损耗小和绝缘性能好的材料作为填充介质,合理设计MCP微带线的厚度、微带宽度及微带与输出面的间距则可减小分幅相机增益的衰减。
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