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气密封装外壳内氢含量检测研究

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信息

资料大小
1.49 MB
文件类型
PDF
语言
简体中文
资料等级
☆☆☆☆☆
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简介

针对氢气作为气密性封装外壳中常见的内部气氛对电子元器件的性能、寿命及可靠性的破坏性影响,通过对封装外壳的材料及制造工艺进行分析,提出确定外壳内部氢气含量温度条件和时间条件的原则和方法,指导气密封装外壳内氢气含量的测试。
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