X光条纹相机在惯性约束聚变实验诊断中具有重要作用．它的性能技术指标的精确标定是实验数据可信度的基础。在上海激光联合实验室的20TW激光器上对X光条纹相机的扫速、时间分辨等时间性能进行了标定，取得了较好的结果。标定结果显示相机的各项性能与出厂标称值有了较大改变。标定的实验结果可有效提高ICF实验数据处理和物理分析的可靠性。

针对硼元素受光照射时发射荧光的特点，设计了高速、高分辨率的时间分辨荧光测硼仪。选用氮脉冲激光器作为激发光源；光电倍增管作为传感器；DSP（TMS320F2812）作为控制系统的核心；采用ALTERACyclonelI系列FPGA（EP2C8Q208C8）控制采样时序；结合高速模数转换器（ADSS05）等构造系统硬件。通过在FPGA内部设计硬件逻辑，对ADS805和模拟多路开关进行精确的时序控制，同时采集光源信号和荧光信号；使用DSP处理所采集的数据；通过USB接口，将数据传送至PC。样机试验达到设计要求。

研制了一种飞行时间望远镜，其组成为Ｓｃｉｎｔｉｌｌａｔｏｒ Ｆｏｉｌ＋ＰＰＡＣ＋ＩＣ＋Ｓｉ，用２５ＭｅＶ／Ａ＾４０Ａｒ束流在线测量，电荷分辨Ｚ／△Ｚ（ＦＷＨＭ）＝４６，质量分辨Ａ／△Ａ（ＦＷＨＭ）＝６７，时间分辨为３４４ｐｓ，能量分辨为０．８％。