多组测量,组与组之间可以在相同条件下进行,但更多的是改变测量条件,如标准器、测量仪器、观测人员、使用条件的改变。一些精密测量和计量器具的检定（如标准热电偶、热电阻的分度）要进行多组测量,取几组测量结果的算术平均值作为最终测量结果,因此,在评定测量不确定度时,不应按单组进行,而应按多组测量建立数学模型与不确定度的合成。

本文对影响X荧光镀层厚度测量的测量条件（准直器、测量时间、测量程式、镜头对焦方式）和测量方法（有无标准片校准及不同校准方法）进行分析并分组实验,通过对测量结果的研究以选择合适的测量条件和测量方法来提高X荧光镀层厚度测量的准确性和可靠性。

一、概述 1.测量条件环境温度：15℃~30℃;相对湿度：≤70%。2.测量对象新制造、使用中及修理后的各类RoHS检测用X荧光光谱仪（XRF）。3.测量标准一套RoHS检测X荧光分析用ABS中镉、铬、汞、铅成分分析标准物质（GBW（E）081634～GBW（E）081637）。