研制了一种新型的双通道椭圆弯晶谱仪,椭圆的离心率和焦距分别为0.9586和1350mm.利用晶体作色散元件,布拉格角为30°～67.5°,谱线探测角为55.4°～134°.在两个通道上用CCD和条纹相机同时测量Χ射线的空间和时间分辨光谱.在'神光Ⅱ'激光装置上进行了首次摄谱实实验,实验结果表明该谱仪的光谱分辨力为0.002nm.

把影响椭圆弯晶谱仪波长判读误差的因素分为两种；一种是未通过椭圆前焦点的射线被理想椭圆晶面衍射时形成的误差，另一种是只考虑晶体为非理想椭圆晶面形成的误差。分别对这两种模型进行了分析，并通过数值计算给出狭缝对椭圆弯晶谱仪波长判读的影响关系。

研制了一种新型的诊断0.2～2nm的激光等离子体X射线的聚焦型椭圆弯晶谱仪,根据椭圆光学自聚焦原理给出了弯晶谱仪的结构设计方案,创造性的提出了利用激光测距仪完成瞄准和测距两个功能的瞄准对中关键技术.通过在上海"神光Ⅱ"靶室上的装调及打靶实验,利用X-CCD成功的获取了谱线的图像,数据分析的结果证明实测谱线波长与理论值吻合.

讨论了椭圆弯晶谱仪的波长分辨能力。在假设谱线的固有宽度可以忽略的情况下,对两种实际影响椭圆弯晶谱仪波长分辨能力的主要因素,即光源空间尺寸和非理想椭圆分光晶面进行了分析。分别对上述两种情况进行了数学建模和数值模拟仿真。定量地分析了非理想椭圆晶面和光源空间尺寸对椭圆弯晶X射线谱仪波长分辨本领的影响程度,并给出了出射狭缝宽度与椭圆弯晶谱仪波长判读加宽的关系。从理论上论证了光源空间尺寸在限制谱仪的波长分辨能力方面仍然起关键主导作用;结合椭圆分光晶体的结构参数,合理地选择出射狭缝宽度,可使谱仪达到足够好的光谱分辨率和信噪比。用搭建的实验平台进行了实验测试,结果表明,当出射狭缝宽度（2δ）为10mm时,实测的谱线半高全宽（Δλ）为3.1×10-3nm;2δ为4mm时,Δλ为2.3×10-4nm,实测结果佐证了仿真结果的正确性。...

X射线光谱议是一种强有力的激光等离子体诊断工具.为了获取激光等离子体发射的X射线中所包含大量信息,基于椭圆几何原理设计制造了X射线弯晶谱议.在上海神光Ⅱ号装置上利用LiF弯曲晶体分析器,用150J激光能量对Ti靶进行了试验.通过X射线CCD记录获取的谱线,结果表明这种聚焦型晶体分析器的灵敏度有了明显的提高.

叙述了双通道椭圆弯晶谱仪的结构原理，详细阐述了天然云母弯晶分析器作为色散元件的制作过程．并在星光Ⅱ激光装置上对金平面靶进行了打靶实验，得到金平面靶的谱线图像数据．为了分析谱线图像数据相互混叠、相互交错的原因，对丹巴天然云母还进行了X射线单晶衍射实验与表面观察实验．实验结果表明，选择丹巴天然云母作为色散元件是造成谱线图像相互混叠、相互交错的根本原因．