光学系统偏振像差的实验分析
为了验证高数值孔径、大入射角、宽光谱的空间光学系统中偏振像差的存在,在激光数字波面干涉仪上对偏振像差进行了实验研究并做了数据分析。论述了偏振像差的两种计算方法,即偏振像差函数的二次扩展式和偏振光线追迹。用软件对激光数字波面干涉仪光学系统分别进行普通光线追迹和偏振光线追迹,PV值增加了33.59%。然后在该系统上对偏振像差进行了实验研究,PV值增加了34.48%。可以看出二者基本吻合。第一次在激光数字波面干涉仪上模拟了空间光学系统,并通过实验证实了改变入射光的偏振态可以改变系统的偏振像差。将实验测得的结果和软件模拟的结果比较后证实了光学系统中偏振像差的存在。
多媒体液晶投影机中的光学薄膜
简单介绍了液晶投影机中的光学薄膜,重点介绍了其中的偏振分色、合色等薄膜。
数字电影系统高性能冷反光镜
为了实现数字影视系统中反光镜较高的光谱要求和良好的膜层特性,深入分析了深椭球反光镜的膜层厚度分布关系,讨论并实践了膜系设计及镀制工艺。使用自行研发设计的高性能冷反光镜专用镀膜机,镀制了光谱特性趋于一致的数字电影反光镜产品,并成功应用于数字电影放映系统。
真空镀膜机的拨动惯性自转机构
光学薄膜,如各种增透膜、干涉滤光片、偏振膜、分光膜和近年来发展起来的激光膜,已成为各种光学仪器中不可缺少的部件。同时对光学膜的质量提出越来越高的要求。膜层的均匀性就是一个重要方面。从理论上讲为了获得均匀的光学薄膜要求蒸发源为一点源,而镀膜基体应当位于以点蒸发源为中心的球面上。然而蒸发源实际上有一定长度,基体又位于一个平面上。因此蒸发后得不到理想均匀的膜层。实践证明使基体做公转和自转是获得均匀膜层较理想的办法。
光学干涉滤光片的石英晶体膜厚自动监控技术
介绍了用石英晶体膜厚控制仪全自动生产光学干涉滤光片的系统结构、镀膜参数和主要结果.讨论了通过改进离子辅助镀膜工艺提高TiO2薄膜折射率稳定性对于应用石英晶体膜厚监控技术的重要性.
应用于显示光学中的偏振分束棱镜的研制
介绍了一种用于硅基液晶光学系统的薄膜型偏振分束棱镜的研制,其中膜系由三种膜料56层膜层构成,文中介绍了设计结果及其制作工艺,并对其测试系统进行了简要说明,测试了制作样品,对测试结果和设计值进行简要分析,结果表明该偏振分束棱镜实现了大角度、宽波段、高消光比的要求。
光学薄膜技术改善分布反馈(DFB)激光器的光谱特性
地了利用镀光学薄膜的方法来改变镀层厚度,可以有效地将原来处于双模工作的1.3±mDFB激光器变为单模工作。模式改变起主导作用的是加镀膜以激光器端面反射特性中的相移。实验表明,镀膜技术可成为改善DFB激光器单模工作的一种辅助方法。实验结果有助于理解相移对激射特性的作用。
按照国标的光学薄膜损伤阈值测试装置
按照ISO/DIS11254光学表面激光损伤阈值测量标准和等价国际的要求,建立了薄膜的1μm YAG脉冲激光损伤阈值定量测试装置,对脉冲能量、脉冲持时间、光束分布及相应的不确定度均进行了测试。
一种新型多功能快速分光式膜厚仪
介绍了一种高性能的多通道光学薄膜膜厚监控系统的设计与制作,系统使用了CC秦为线阵探测器。详细论述了光源、接收器以及光纤导光系统物设计过程。实验表明该设备可以用于高精度高速测量,也适合于监控制作多层膜滤光片。
椭偏仪的结构原理与发展
椭偏仪是目前薄膜光学参数测量最先进的智能化仪器,本文比较系统介绍了仪器的结构原理,测量方法和发展现状。