光学系统偏振像差的实验分析
为了验证高数值孔径、大入射角、宽光谱的空间光学系统中偏振像差的存在,在激光数字波面干涉仪上对偏振像差进行了实验研究并做了数据分析。论述了偏振像差的两种计算方法,即偏振像差函数的二次扩展式和偏振光线追迹。用软件对激光数字波面干涉仪光学系统分别进行普通光线追迹和偏振光线追迹,PV值增加了33.59%。然后在该系统上对偏振像差进行了实验研究,PV值增加了34.48%。可以看出二者基本吻合。第一次在激光数字波面干涉仪上模拟了空间光学系统,并通过实验证实了改变入射光的偏振态可以改变系统的偏振像差。将实验测得的结果和软件模拟的结果比较后证实了光学系统中偏振像差的存在。
薄膜偏振分光镜的优化设计与实验
采用矩阵法推导了规整膜系的等效导纳并计算出中心波长的反射率,重点分析了P偏振光的有效导纳与折射率之间的关系,说明了膜系对高、低折射率的灵敏度是不同的;给出了设计薄膜偏振分光镜需满足的公式组,突破了MacNeille公式的限制;介绍了调节有效导纳值的膜层置换法.可有效抑制P光的反射峰。模拟与实验结果表明,在170nm范围内,消光比大于l000:1。
计算机辅助检测光学薄膜参数特性的一种方法探讨
简要的叙述了光学薄膜光学特性的通用计算方法,即特征矩阵法。采用这种方法的逆运算形式,应用计算机辅助计算和检测技术,在国内首次完成对多层光学薄膜镀膜后或制备过程中各膜层光学厚度的检测。同时介绍了有关的计算公式和计算程序流程,最后给出试验数据结果和结论。
多媒体液晶投影机中的光学薄膜
简单介绍了液晶投影机中的光学薄膜,重点介绍了其中的偏振分色、合色等薄膜。
数字电影系统高性能冷反光镜
为了实现数字影视系统中反光镜较高的光谱要求和良好的膜层特性,深入分析了深椭球反光镜的膜层厚度分布关系,讨论并实践了膜系设计及镀制工艺。使用自行研发设计的高性能冷反光镜专用镀膜机,镀制了光谱特性趋于一致的数字电影反光镜产品,并成功应用于数字电影放映系统。
光学系统偏振像差实验的分析
为了验证高数值孔径、大入射角、宽光谱的空间光学系统中偏振像差的存在,在激光数字波面干涉仪上对偏振像差进行了实验研究并做了数据分析。论述了偏振像差的两种计算方法,即偏振像差函数的二次扩展式和偏振光线追迹。用软件对激光数字波面干涉仪光学系统分别进行普通光线追迹和偏振光线追迹,PV值增加了33.59%。然后在该系统上对偏振像差进行了实验研究,PV值增加了34.48%。可以看出二者基本吻合。第一次在激光数字波面干涉仪上模拟了空间光学系统,并通过实验证实了改变入射光的偏振态可以改变系统的偏振像差。将实验测得的结果和软件模拟的结果比较后证实了光学系统中偏振像差的存在。
真空镀膜机的拨动惯性自转机构
光学薄膜,如各种增透膜、干涉滤光片、偏振膜、分光膜和近年来发展起来的激光膜,已成为各种光学仪器中不可缺少的部件。同时对光学膜的质量提出越来越高的要求。膜层的均匀性就是一个重要方面。从理论上讲为了获得均匀的光学薄膜要求蒸发源为一点源,而镀膜基体应当位于以点蒸发源为中心的球面上。然而蒸发源实际上有一定长度,基体又位于一个平面上。因此蒸发后得不到理想均匀的膜层。实践证明使基体做公转和自转是获得均匀膜层较理想的办法。
光学干涉滤光片的石英晶体膜厚自动监控技术
介绍了用石英晶体膜厚控制仪全自动生产光学干涉滤光片的系统结构、镀膜参数和主要结果.讨论了通过改进离子辅助镀膜工艺提高TiO2薄膜折射率稳定性对于应用石英晶体膜厚监控技术的重要性.
应用于显示光学中的偏振分束棱镜的研制
介绍了一种用于硅基液晶光学系统的薄膜型偏振分束棱镜的研制,其中膜系由三种膜料56层膜层构成,文中介绍了设计结果及其制作工艺,并对其测试系统进行了简要说明,测试了制作样品,对测试结果和设计值进行简要分析,结果表明该偏振分束棱镜实现了大角度、宽波段、高消光比的要求。
光学薄膜在线宽光谱膜厚控制仪
本文介绍了一种高性能的实时宽光谱膜厚控制仪的设计与制作,详细介绍了该系统的工作方式及设计思想.实验表明该系统可以用于光学薄膜在线实时监控和光学薄膜光谱特性检测,并可能基于该系统开发薄膜自动控制系统.