简要的叙述了光学薄膜光学特性的通用计算方法，即特征矩阵法。采用这种方法的逆运算形式，应用计算机辅助计算和检测技术，在国内首次完成对多层光学薄膜镀膜后或制备过程中各膜层光学厚度的检测。同时介绍了有关的计算公式和计算程序流程，最后给出试验数据结果和结论。

用特征矩阵法研究了多腔薄膜梳状滤波器在C波段的偏振特性。结果表明，当入射角较小时，s偏振光和p偏振光有相同或相近的透射特性；当入射角较大时，可以使透射光成为完全的p偏振光，而且在入射角发生很小的变化时，可以使p偏振光通带的中心波长的透射率发生很大的变化；当入射角很大后，s偏振光的透射峰比p偏振光的透射峰的变化快很多。研究表明，多腔薄膜梳状滤波器可以在与偏振和微小的角度变化有关的领域中发挥重要作用。

利用组合刻蚀法布里珀罗(F-P)干涉滤光片的谐振腔间隔层的方法,制备了集成在一个基片上的8通道中波红外(λ0=2.8 μm)窄带滤光片,通道线宽为0.7 mm,光谱通道定位精度优于1%,各通道相对半峰宽为1%.此法有效提高了成品率,并可满足实现通道数更多,集成度更高的滤光器件发展的需求.

地了利用镀光学薄膜的方法来改变镀层厚度，可以有效地将原来处于双模工作的１．３±ｍＤＦＢ激光器变为单模工作。模式改变起主导作用的是加镀膜以激光器端面反射特性中的相移。实验表明，镀膜技术可成为改善ＤＦＢ激光器单模工作的一种辅助方法。实验结果有助于理解相移对激射特性的作用。

按照ＩＳＯ／ＤＩＳ１１２５４光学表面激光损伤阈值测量标准和等价国际的要求，建立了薄膜的１μｍ ＹＡＧ脉冲激光损伤阈值定量测试装置，对脉冲能量、脉冲持时间、光束分布及相应的不确定度均进行了测试。

介绍了一种高性能的多通道光学薄膜膜厚监控系统的设计与制作，系统使用了ＣＣ秦为线阵探测器。详细论述了光源、接收器以及光纤导光系统物设计过程。实验表明该设备可以用于高精度高速测量，也适合于监控制作多层膜滤光片。

本文介绍了一种高性能的实时宽光谱膜厚控制仪的设计与制作,详细介绍了该系统的工作方式及设计思想.实验表明该系统可以用于光学薄膜在线实时监控和光学薄膜光谱特性检测,并可能基于该系统开发薄膜自动控制系统.

偏振像差是影响光学系统性能的重要因素之一,尤其对偏振有严格要求的光学系统来说更是如此.论述了偏振像差的理论和偏振光线追迹的方法,并对旋转对称光学系统、倾斜偏轴光学系统的偏振像差进行了分析,指出了薄膜设计对偏振像差所产生的重要影响.介绍了提高光学系统偏振精度的几个方法,包括尽可能的减小入射角、薄膜设计的优化和像差之间的相互平衡.