简要的叙述了光学薄膜光学特性的通用计算方法，即特征矩阵法。采用这种方法的逆运算形式，应用计算机辅助计算和检测技术，在国内首次完成对多层光学薄膜镀膜后或制备过程中各膜层光学厚度的检测。同时介绍了有关的计算公式和计算程序流程，最后给出试验数据结果和结论。

用特征矩阵法研究了多腔薄膜梳状滤波器在C波段的偏振特性。结果表明，当入射角较小时，s偏振光和p偏振光有相同或相近的透射特性；当入射角较大时，可以使透射光成为完全的p偏振光，而且在入射角发生很小的变化时，可以使p偏振光通带的中心波长的透射率发生很大的变化；当入射角很大后，s偏振光的透射峰比p偏振光的透射峰的变化快很多。研究表明，多腔薄膜梳状滤波器可以在与偏振和微小的角度变化有关的领域中发挥重要作用。

提出用一维缺陷光子晶体来测量角度特别是小的角度变化的设计方案。用Si薄膜和SiO2薄膜组成一维缺陷光子晶体，用特征矩阵法研究该光子晶体的禁带中的缺陷模的波长和强度随入射角缓慢变化而变化的规律，由此提出根据缺陷模的波长、强度、偏振性与入射角的关系进行角度测量的原理。本设计特别适用于极小的角度变化的测量。

为了实现更早地检测出滚动轴承发生故障,提出一种基于核熵成分分析(KECA)和贝叶斯优化(BO)算法优化支持向量数据描述(SVDD)的滚动轴承早期故障检测方法。提取轴承振动信号的时域、频域特征以及小波包分解节点能量特征,组成多维特征矩阵;利用KECA对多维特征矩阵进行降维处理,进而提取有效特征;最后,选取轴承正常状态的特征指标训练模型,利用BO算法确定SVDD的惩罚因子和核宽度,进而得到早期故障检测模型。利用该模型对XJTU-SY数据集中不同工况下的轴承