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相控阵技术对轴承内部缺陷性质的分析

作者: 彭志战 杨德胜 陈翠丽 陈文君 来源:轴承 日期: 2021-01-02 人气:210
相控阵技术对轴承内部缺陷性质的分析
介绍了相控阵技术和工业CT技术的优点,说明了相控阵探伤原理和工业CT成像原理。通过对轴承常见内部缺陷进行相控阵图像采集与分析,并与工业CT图像对比,总结了内部缺陷相控阵图像特征。结果表明:运用相控阵技术可直观显示轴承内部缺陷形貌,为快速、准确判断轴承零件的内部缺陷性质提供了良好基础。
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