在磁粉检测中，试片的使用非常普遍。磁粉检测试片，又叫灵敏度试片，常用的类型有A，C和D型，此外还有M型试片。 20世纪60年代，试片最早在日本开始使用，试片主要用于验证磁粉检测综合性能（系统灵敏度），另外还可用于考察工件表面的磁场分布特征，确定被检工件的磁化电流值，以及直接考察试验条件和操作方法是否适当。

超声衍射时差技术是近年国际上被广泛认可的超声检测新工艺，具有自动化、检测速度快以及结果显示直观等特点。目前由于国内缺乏仪器设备的优势和标准规范的支持，在该领域已形成一定的技术壁垒，并对国内企业的技术研发和产业化构成了一定冲击。但是挑战与机遇并存，这同时也为我国自主创新并实施产业化战略提供了良机。