一种基于ADμC816的高精度工业称重仪
介绍了应用新型ApμC816芯片为核心研制的工业称重仪的基本功能及其组成框图,并对该称重仪的应用技术特点作了较为详细的说明.
基于光杠杆原理的纳米级微位移测量系统研究
介绍了一种基于光杠杆原理的光学微位移测量系统。该系统的理论分辨力为4nm,实验测得系统分辨力小于10nm。经过实验,验证了该系统的可行性。实验结果表明,该装置灵敏度及重复性好,结构简单,便于构成微电子机械系统——MEMS(micro electro mechanical systems),实现系统微型化及自动化。
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