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核电用聚四氟乙烯密封件老化状态研究及使用寿命预测

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1.67 MB
文件类型
PDF
语言
简体中文
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简介

选用核电用聚四氟乙烯(PTFE)材料,在不同温度下(315、300、285℃)进行高温加速老化试验。通过傅里叶变换红外光谱仪(FTIR)、扫描电子显微镜(SEM)、热失重分析仪(TG)对材料的微观结构、热性能进行了表征分析,然后采用热老化和热失重法建立了2种老化寿命预测模型。结果表明,随着老化时间的延长,PTFE的FTIR谱图出现了明显的红移,表面出现了明显的孔洞,材料的热稳定性和力学性能变差;寿命预测模型显示热失重法与热老化法推算出的寿命预测结果基本一致,并且随着使用温度的增加,误差进一步缩小,这表明热失重法对PTFE材料使用寿命的推算是可靠的,这种简单易行的方法非常适用于PTFE材料。
标签: 密封件
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