X光照相对再热器对接接头根部裂纹检出率的研究

作者：程刚来源：机械工程师日期：2021-01-29 人气：130

版权信息：站内文章仅供学习与参考，如触及到您的版权信息，请与本站联系。

信息

资料大小

720KB

文件类型

PDF

语言

简体中文

资料等级

☆☆☆☆☆

下载次数

通过双壁双影成像法研究了小径管对接接头的射线检验方法以及根部裂纹检出率的具体实施方案.研究表明,对小径管的射线检验应采用高电压、短时间的×射线透照技术；同时,研究发现缺陷检出率与小径管的透照角度和管径有密切关系.更重要的是,针对产品的特殊结构,研究出了一套特殊的×光照相方案.

标签：

点赞收藏

请自觉遵守互联网相关的政策法规，严禁发布色情、暴力、反动的言论。