介绍了Si衬底功率型GaN基LED芯片和封装制造技术,分析了Si衬底功率型GaN基LED芯片制造和封装工艺及关键技术,提供了产品测试数据。Si衬底LED芯片制备采用上下电极垂直结构与Ag反射镜工艺,封装采用仿流明大功率封装,封装后白光LED光通量达80 lm,光效达70 lm/W,产品已达商品化。与蓝宝石和SiC衬底技术路线相比,Si衬底LED芯片具有原创技术产权,可销往任何国家而不受国际专利的限制。产品抗静电性能好,寿命长,可承受的电流密度高,具有单引线垂直结构,器件封装工艺简单,而且生产效率高,成本低廉。其应用前景广阔,是值得大力发展的一门新技术。

以国家标准光通量的测量方法为背景,给出几种典型家用电光源光通量的测量公式;提出当今多光源混合照明光通量的测量方法;最后,对测量误差作了分析.

对目前广泛使用的积分球测量系统进行改进十分必要，本文在分析其基本原理的基础上，介绍了计算机辅助光通量测量系统的构成、性能以及软、硬件的设计方法。

分析了一种光学颗粒计数器设计技术的理论和方法，并研制了一套用于颗粒计数的实验装置。经过实验验证，该装置能够对液体介质中的颗粒状杂质的数量和粒径进行检测。试验表明，该装置不仅能够测量大颗粒，而且还能够检测较小的颗粒。

含有线光谱的光源通过单色仪测出其相对光谱能量分布,并与标准灯(连续光谱)相对光谱能量分布相比,求出光源的光通量.本文从理论上分析这种分光法测试的正确性,文中也阐述了实际测量中可能产生的误差及其解决的方法.

为了实现对微弱信号的光谱分析,采用Offner光学结构制作了高光通量高分辨率阿达玛光谱仪,并对光谱仪入射狭缝的类型选择进行分析。利用MEMS加工技术制作出阿达玛微硅片狭缝阵列,分析了入射狭缝的衍射现象,推导出衍射后的光强分布公式。采用Matlab软件对光强分布进行仿真,搭建了实验测量平台验证仿真结果。结果显示,在相同的条件下,阿达玛S15型狭缝阵列的光通量是阿达玛循环S15型狭缝阵列的1.45倍,推导得出的衍射光强分布公式正确,仿真方法准确,测试方法合理,表明阿达玛S型微硅片狭缝阵列适合本文设计的光谱仪。

分析了逆反射球透镜的原理，从单个球透镜出发，详细讨论了光线传播过程及光通量分布，得到了其反光性能与各因素的关系。并把此结论推广到球透镜逆反射阵列，提出球透镜逆反射器的基本概念及应用的要点。

利用空间调制干涉光谱技术研制了基于双层Wollaston棱镜组的干涉仪原理样机,用该样机进行了干涉光谱实验,采集了He-Ne激光器干涉图像,通过对图像进行数据处理,获得了光源的归一化光谱图。并对样机系统做了光通量分析。它与传统的使用单个Wollaston棱镜测量光谱的方法相比,光谱分辨率和光通量可以提高一倍以上。

针对微孔检测中精度和效率亟待提高的问题，首次提出了基于光通量的微孔几何参数快速检测理论和技术。研究基于微弱光通量检测的微子L测量传感器测量原理和用于微弱信号处理的电路设计。通过对五种不同规格的微孔进行检测，拟合出基于光通量法检测微孔电压值与图像检测数据的关系曲线。最后分析了测量系统的误差来源和特点，研究了误差补偿技术，并通过实验验证了基于光通量法微孔检测原理的可行性和有效性。