银触点广泛应用于各种电子元器件中,其表面要求覆盖银层完整光亮,但在生产中表面会出现多种缺陷难以检测而影响使用。为保证其出厂的零缺陷,提出了基于ROI的银触点模板匹配缺陷检测方法。通过对图像进行形态学处理,保证了整张图像的低噪声,根据银触点的表面外形特征,优化了模板匹配的搜索路径,实现了自动选取目标。凸包运算后准确做出圆形区域的最小外接矩形ROI,通过位址映射求出最小外接矩形的位置,得到信息完整的原图ROI。将模板ROI与实时ROI进行去均值归一化相关匹配,计算两幅图像的相似度。通过大量实验得出合格约束相似度,对比人工分拣与机器视觉ROI模板匹配的分拣误差,得出基于ROI的银触点模板匹配缺陷检测方法,符合银触点的出厂要求。

本文主要研究了常见的线性离散系统的控制器最优参数的存在范围.所得出的结果可以为控制器的最优参数的搜索提供一个可靠的搜索区间,并在此基础上给出了一个系统不可控的判定.

本文介绍了一种基于双TMS320VC5416处理器的实时图像搜索跟踪处理系统,详细阐述了该系统的硬件设计思想,并结合一种跟踪算法实例叙述了基于DSP的图像搜索与跟踪处理系统软件设计的一般流程.该系统是一种优良的图像处理平台,具备良好的通用性,可以用来实现多种图像处理算法.