研制了一种新型的双通道椭圆弯晶谱仪,椭圆的离心率和焦距分别为0.9586和1350mm.利用晶体作色散元件,布拉格角为30°～67.5°,谱线探测角为55.4°～134°.在两个通道上用CCD和条纹相机同时测量Χ射线的空间和时间分辨光谱.在'神光Ⅱ'激光装置上进行了首次摄谱实实验,实验结果表明该谱仪的光谱分辨力为0.002nm.

提出一种简便的新方法用以实现X射线平晶谱仪谱线波长的直接标定,只需在谱仪晶体表面加上一个特制的辅助光阑,即可在不知光源位置和没有任何参考谱线的情况下精确标定谱线的波长.

为了满足激光等离子体X射线波长测量的需要，在辅助光阑法的基础上，从理论上提出了一种用平面晶体谱仪确定波长的新方法。发展了改进的辅助光阑法来确定晶体面与记录面的交线到第一条辅助光阑的距离，并且利用某一条谱线的曲率得到记录面与晶体表面的夹角。这两个参量在一般的辅助光阑法中需借用参考谱线得到，而采用新的方法可在不使用任何参考谱线的情况下得到所有光谱线的波长。实际使用中通过增大光阑间的间距，根据不同的波长范围调节晶体与记录面的相对位置，可使波长的测量精度达1×10^-3nm。

<正> 根据多层膜反射镜原理建立的X射线光学系统可获得微细物体放大成像的分辨率为0.2μm(波长为20nm时)。这个系统由激光等离子体光源、X射线聚光镜、20~x倍施瓦兹希尔德物镜、滤光片组和探测器组成。所使用的高质量的X光光学零件和精密调整光学系统,可获得在全通光口径下的分辨率为0.2μm,用二倍频Nd激光器,脉冲能量为0.5J,在一个脉冲间隔1.5ns时间内获得曝光是足够的。

研制了一种新型的基于空间分辨的激光等离子体X射线极化谱仪。将平面晶体和球面弯晶色散元件在极化谱仪内正交布置，即在水平通道用PET平面晶体作为色散元件，在垂直通道用半径为380mm的Mica球面弯晶作为色散元件。信号采用成像板进行接收，有效接收面积为30mm×80mm，从等离子体光源经晶体到成像板的光路为980mm。实验中成像板获得了铝激光等离子体X射线的光谱空间分辨信号。实验结果表明：该极化谱仪具有较高的光谱分辨率，适用于激光等离子体X射线极化光谱的诊断。

X射线光谱议是一种强有力的激光等离子体诊断工具.为了获取激光等离子体发射的X射线中所包含大量信息,基于椭圆几何原理设计制造了X射线弯晶谱议.在上海神光Ⅱ号装置上利用LiF弯曲晶体分析器,用150J激光能量对Ti靶进行了试验.通过X射线CCD记录获取的谱线,结果表明这种聚焦型晶体分析器的灵敏度有了明显的提高.

描述了一种测量激光等离子体发射的软Ｘ光能谱强度的宽带Ｒｏｓｓ滤片谱仪。该谱仪具有多个能道，每道由一对Ｒｏｓｓ滤片及Ｘ光探测器组成。这些能道的灵敏带没有间隔地覆盖了整个感兴趣的能区。给出了使用Ａｌ阴极Ｘ光二极管作为探测器的最佳９能道谱仪（０．１￣１．５ｋｅＶ），并且计算了Ｘ光戴面数据和滤片厚度不准确、以及滤片中光子散射等因素对探测精度的影响。

在惯性约束聚变（ICF）中,激光等离子体产生的X射线包含了丰富的信息。为了获取这些有用的信息用于诊断电子的温度和密度,本文基于椭圆几何原理研制了布拉格散射角为30～65°区域的椭圆弯晶分析器,论述了等离子体诊断谱仪的弯晶分析器加工及其性能评价。LiF晶体被用作X射线散射元件,晶体是椭圆弯曲的粘贴在偏心率为0.9586、焦距为1350mm的不锈钢衬底上。激光功率为1.6×10^14W/cm^2,脉宽为800～900ps,并以钛作为靶材。实验结果表明,该弯晶分析器具有比平晶分析器更好的灵敏度,光谱分辨率达到500（λ/Δλ）。

提出了利用多层膜聚光镜提高Schwarzschild显微镜成像均匀性的方法。设计了聚光镜的光学结构,使80%的等离子体辐射能量会聚在约0.8 mm直径的范围内。根据成像系统的工作波长和光线在聚光镜表面的入射角度,设计了Mo/Si周期多层膜,制备了聚光镜光学元件,膜层周期厚度为9.64 nm,周期数为30,对18.2 nm波长的峰值反射率为51.7%。利用所设计的聚光镜作为照明系统,对Schwarzschild物镜进行了网格成像实验。结果表明：在1.2 mm视场内可以实现2.5μm的空间分辨力,并且完全消除了物镜中心遮拦所造成的像面光强分布不均匀性。