介绍了中国计量科学研究院在真空紫外-软X射线波段（5～105 nm）探测器标准研究的新进展。介绍了建立在中国科学技术大学国家同步辐射实验室的以稀有气体电离室为标准探测器的探测器校准装置,以及利用该电离室作为基准探测器对作为传递标准探测器的硅光电二极管的量子效率测量的结果,在5～35 nm范围内,相对标准不确定度为18%～20%。与NIST的结果相比,有较好的符合。

研究基于同步辐射的紫外-真空紫外光谱辐射测量装置.通过切换前置镜位置来完成同步辐射光源和传递标准光源的测量.讨论了辐射计偏振特性对测量结果的影响.根据Schwinger提出的理论公式,利用同步辐射作为基准辐射源,在115-350 nm的波长范围测量了作为传递标准的氘灯的光谱辐射亮度,测量不确定度为11%-14%.

本文介绍了世界上利用同步辐射建立辐射计量标准的现状,对利用同步辐射建立真空紫外--软X射线波段的光源标准和探测器标准的原理方法进行了论述,并介绍了我们在这方面的工作和取得的阶段性成果.

描述在研的软Ｘ射线－真经紫外傅立叶变换光谱仪原理样机预期结构和性能，讨论并分析了影响谱仪光谱分辨率及谱线位移的因素，结合大数据量ＦＦＴ数值算示给邮实际仪器参数情况下的典型光谱线模拟曲线。

本文介绍一种真空紫外辐射强度测试仪的研制，仪器使用的光电管以ＣｕＩ为阴极材料，测试仪的重现性良好，光谱范围从１１０ｎｍ到２００ｎｍ动态线性范围大于１０＾２，线性相关系数ｒ＝０．９９。

设计等离子体显示板(PDP)真空紫外荧光测试系统来测评PDP荧光粉的特性.系统通过巧妙设计测试腔,模拟PDP放电单元,为激发PDP荧光粉发光提供所需要的较强真空紫外线,使系统能够分析出荧光粉的光谱功率分布、发光亮度、带宽、发射谱线主峰波长、色品坐标、颜色纯度和主波长等各种光学特性.实验结果数据表明,该系统的可重复性好、精度高,为研制高质量的等离子体显示板提供了依据.

研究了真空紫外到深紫外波段常用的基底材料，给出了常用基底材料的光学特性和在真空紫外波段的截止波长，测量了这些材料在120～500nm的透过率，给出了通过透过率计算弱吸收基底光学常数的计算方法，并用该方法得到了熔石英、氟化镁晶体、氟化钙晶体、氟化锂晶体在120～500nm的折射率和消光系数，对这些常用基底的使用范围和特点进行了一定的比较和分析，并将所得基底的光学常数与公开发表的文献进行了比较，证明了所得结果的可靠性。