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直线拟合边缘检测法在光电自准直仪中的应用

作者: 杨博雄 胡新和 傅辉清 陈志高 欧同庚 刘海波 郑勇 来源:大地测量与地球动力学 日期: 2024-08-01 人气:6
直线拟合边缘检测法在光电自准直仪中的应用
CCD的分辨率是影响新型光电自准直仪测量精度的关键因素,而边缘检测法是CCD位移测量的主要方法.对数字图像处理中直线拟合边缘检测法进行了详细介绍,并将其应用于高精度一维光电自准直仪的研制.
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