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真空芯片封装机热特性有限元分析

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信息

资料大小
1.31 MB
文件类型
PDF
语言
简体中文
资料等级
☆☆☆☆☆
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简介

为研究真空芯片封装机热源对其热变形的影响,对真空芯片封装机进行热特性有限元分析。首先建立真空芯片封装机三维热分析有限元模型,然后分别对非真空和真空环境下的稳态温度场及热-结构耦合进行分析计算,得出了封装机各部件在两种工作条件下的热变形,最后对比分析了热变形对封装机加工精度的影响,为热误差补偿的进行提供了依据。
标签: 有限元
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