粒子像斑三维定位的透视成像原理和方法

简介

在三维粒子成像测速（ＰＩＶ）方面，可运用体积光照明同时从不同光轴用多个照相机获得ＰＩＶ图像，如何根据这些不同光轴获得的ＰＩＶ图像确定出粒子物点的空间位置是实现三维粒子成像测速的前提。基于此，提出了根据多幅不同光轴的ＰＩＶ图像的粒子像斑实现粒子物点三维定位的透视成像定位原理和方法。精确确定透视平面与透视中心在空间的位置是实现粒子物点三维定位的关键，妆测定透视中心（照相机的光学中心）和透视平面在空间的